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Official data from INPI

WAFER PADRÃO PARA LEDS, WAFER EPITAXIAL PARA LEDS E MÉTODO DE FABRICAÇÃO DE WAFER EPITAXIAL PARA LEDS

ArquivadaInvention PatentPCT · JP2014064153

Application data

Number

112015029641

Type

Invention Patent

Filing

05/28/2014

Publication

07/25/2017

PCT

JP2014064153

Progress at the INPI

  1. Filing05/28/14
  2. Publication07/25/17
  3. Abandoned
  4. Allowance
  5. Grant
  6. In force

The application was abandoned: the INPI technical office action was not answered in time (art. 36 of the Brazilian IP Act). The technology is in the public domain in Brazil.

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Latest action published by the INPI: 07/20/2021. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

A. C. (pessoa física)

JP

Inventors

J. K. (pessoa física)

JP

Technical data

Priority claims

JP

2013-116024 · 05/31/2013

JP

2013-116025 · 05/31/2013

Abstract

WAFER PADRÃO PARA LEDS, WAFER EPITAXIAL PARA LEDS E MÉTODO DE FABRICAÇÃO DE WAFER EPITAXIAL PARA LEDS.A presente invenção refere-se a um wafer padrão (10) para LEDs que é fornecido com uma estrutura desigual A (20) possuindo uma disposição com simetria de n fold substancialmente em pelo menos uma parte da superfície principal, onde em pelo menos uma parte da estrutura desigual A (20), um ângulo de mudança de rotação (teta) corresponde a 0°(menor que) (teta) (180/n)° onde (teta) é o ângulo de mudança de rotação de um eixo geométrico de disposição A da estrutura desigual A (20) com relação a uma direção de eixo geométrico de cristal na superfície principal, e um topo da parte convexa da estrutura desigual A (20) é uma parte de canto com um raio de curvatura que excede "0". Uma primeira camada semicondutora (30), uma camada semicondutora de emissão de luz (40) e uma segunda camada semicondutora (50) são colocadas em camadas na estrutura desigual A (20) para constituir um wafer epitaxial (100) para LEDs. É possível se fornecer o wafer padrão para LEDs e o wafer epitaxial para LEDs com rachaduras e eficiência de quantidade interna IQE aperfeiçoadas.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Adição na publicação

#15.35

07/20/2021

RPI 2637

Arquivamento - Art. 36 §1° da LPI

#11.2

09/15/2020

RPI 2593

Exigência preliminar

#6.21

03/31/2020

RPI 2569

Notificação de acesso ao patrimônio genético

#6.6.1

11/06/2018

RPI 2496

15.40

10/02/2018

RPI 2491

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

Publicação automática da admissibilidade da fase nacional depositado via PCT . Tratado de cooperação em matéria de Patentes, conforme Instrução Normativa nº 02, de 06/06/2017 publicada na RPI nº 2422, de 06/06/2017.

07/25/2017

RPI 2429

Alteração de dados cadastrais

#1.1

12/15/2015

RPI 2345

Patent monitoring

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