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Dado oficial do INPI

MEMÓRIA TRIDIMENSIONAL E MÉTODO DE FABRICAÇÃO DA MESMA, SISTEMA DE MEMÓRIA E APARELHO ELETRÔNICO

Em AnálisePatente de InvençãoPCT · CN2023082250

Dados do pedido

Patente de Invenção MEMÓRIA TRIDIMENSIONAL E MÉTODO DE FABRICAÇÃO DA MESMA, SISTEMA DE MEMÓRIA E APARELHO ELETRÔNICO de YANGTZE MEMORY TECHNOLOGIES CO., LTD. — IPC H10B 51/50
Patente de Invenção MEMÓRIA TRIDIMENSIONAL E MÉTODO DE FABRICAÇÃO DA MESMA, SISTEMA DE MEMÓRIA E APARELHO ELETRÔNICO de YANGTZE MEMORY TECHNOLOGIES CO., LTD. — IPC H10B 51/50. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.

Número

112024018878

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

17/03/2023

Publicação

24/12/2024

PCT

CN2023082250

Andamento no INPI

  1. Depósito17/03/23
  2. Publicação
  3. Exame
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Patente de Invenção (via PCT) depositado no INPI em 17/03/2023. Aguarda exame formal e publicação na RPI.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 24/12/2024. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

YANGTZE MEMORY TECHNOLOGIES CO., LTD.

CN

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Inventores

D. W. (pessoa física)

CN

K. Z. (pessoa física)

CN

W. Z. (pessoa física)

CN

Z. X. (pessoa física)

CN

Z. Z. (pessoa física)

CN

Z. H. (pessoa física)

CN

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

CN

202210273515.3 · 18/03/2022

CN

202210273522.3 · 18/03/2022

Resumo técnico

MEMÓRIA TRIDIMENSIONAL E MÉTODO DE FABRICAÇÃO DA MESMA, SISTEMA DE MEMÓRIA E APARELHO ELETRÔNICO. A presente invenção refere-se a uma memória tridimensional (3D). A memória 3D pode incluir uma estrutura de pilha que inclui camadas de porta lógica e camadas dielétricas posicionadas alternadamente. A estrutura de pilha pode incluir uma estrutura de ressaltos que inclui uma pluralidade de estruturas de ressaltos localizadas em uma primeira direção e tendo alturas diferentes em uma segunda direção. A memória 3D pode incluir uma pluralidade de primeiros batentes posicionados na primeira direção e localizados na pluralidade de ressaltos de pelo menos uma das estruturas de ressaltos, com cada um dentre a pluralidade de primeiros batentes localizados no ressalto correspondente da pluralidade de ressaltos. A memória 3D pode incluir uma camada de proteção que cobre a estrutura de ressaltos e os primeiros batentes. A memória 3D pode incluir uma pluralidade de pinos de contato, cada um se estendendo através da camada de proteção e do primeiro batente e estando conectado com a camada de porta lógica no ressalto que corresponde ao primeiro batente.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

24/12/2024

RPI 2816

Alteração de dados cadastrais

#1.1

24/09/2024

RPI 2803

Monitoramento de patentes

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