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Official data from INPI

SISTEMA ÓPTICO COMBINADO PARA MEDIÇÕES DIMENSIONAIS E TÉRMICAS E MÉTODO OPERACIONAL RELACIONADO

ArquivadaInvention Patent

Application data

Invention Patent SISTEMA ÓPTICO COMBINADO PARA MEDIÇÕES DIMENSIONAIS E TÉRMICAS E MÉTODO OPERACIONAL RELACIONADO de ADIGE S.P.A. — IPC B23K 26/03
Invention Patent SISTEMA ÓPTICO COMBINADO PARA MEDIÇÕES DIMENSIONAIS E TÉRMICAS E MÉTODO OPERACIONAL RELACIONADO de ADIGE S.P.A. — IPC B23K 26/03. Drawing published by the INPI in the Industrial Property Gazette.

Number

102021006214

Type

Invention Patent

Filing

03/31/2021

Publication

03/03/2022

Progress at the INPI

  1. Filing03/31/21
  2. Publication03/03/22
  3. Abandoned
  4. Allowance
  5. Grant
  6. In force

The application was abandoned: the INPI technical office action was not answered in time (art. 36 of the Brazilian IP Act). The technology is in the public domain in Brazil.

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Latest action published by the INPI: 07/07/2026. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

ADIGE S.P.A.

IT

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Inventors

B. P. (pessoa física)

IT

S. D. (pessoa física)

IT

Technical data

Priority claims

IT

102020000006880 · 04/01/2020

Abstract

SISTEMA ÓPTICO COMBINADO PARA MEDIÇÕES DIMENSIONAIS E TÉRMICAS E MÉTODO OPERACIONAL RELACIONADO.É descrito um sistema óptico combinado para determinar a temperatura da superfície de um objeto ou material e sua distância de um ponto de referência predeterminado associado ao sistema, compreendendo uma fonte de irradiação óptica projetada para emitir pelo menos uma irradiação de sonda óptica em um comprimento de onda predeterminado ou em uma faixa predeterminada de comprimentos de onda, uma unidade de controle da fonte projetada para controlar alternadamente a comutação da fonte de uma condição operacional na qual emite irradiação óptica para uma condição não operacional na qual não emite irradiação óptica da sonda, detectores ópticos projetados para adquirir ao menos uma emissão óptica difusa e uma irradiação óptica termicamente emitidas a partir da superfície do objeto ou material, e uma unidade de processamento sincronizada com a unidade de controle deve ser preparada para determinar a distância da superfície do objeto ou material com base na emissão óptica da sonda difundida a parir da superfície do objeto ou material e recebida pelos meios detectores quando a fonte estiver operacional e determinar a temperatura local da superfície do objeto ou material com base na irradiação óptica da emissão térmica a partir da superfície do objeto ou material recebido pelos detectores quando a fonte não estiver operacional.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Arquivamento - Art. 36 §1° da LPI

#11.2

07/07/2026

RPI 2896

Parecer de pré-exame

#6.23

03/24/2026

RPI 2881

Publicação do pedido de patente

#3.1

03/03/2022

RPI 2669

Pedido de patente depositado

#2.1

06/15/2021

RPI 2632

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '870210029910' em 31/03/2021 09:03 (WB)

04/20/2021

RPI 2624

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