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MÉTODO PARA DETECTAR A CONDIÇÃO DE OPERAÇÃO DE UM ELEMENTO ÓPTICO DISPOSTO AO LONGO DE UM CAMINHO DE PROPAGAÇÃO DE UM FEIXE DE LASER DE UMA MÁQUINA PARA PROCESSAR UM MATERIAL, SISTEMA PARA EXECUTAR O REFERIDO MÉTODO, E UMA MÁQUINA DE PROCESSAMENTO A LASER PROVIDA COM O MENCIONADO SISTEMA

ArquivadaInvention Patent

Application data

Number

102020020205

Type

Invention Patent

Filing

10/01/2020

Publication

07/27/2021

Progress at the INPI

  1. Filing10/01/20
  2. Publication07/27/21
  3. Abandoned
  4. Allowance
  5. Grant
  6. In force

The application was abandoned: the INPI technical office action was not answered in time (art. 36 of the Brazilian IP Act). The technology is in the public domain in Brazil.

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Latest action published by the INPI: 10/21/2025. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

ADIGE S.P.A.

IT

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Inventors

D. G. (pessoa física)

IT

M. V. (pessoa física)

IT

M. S. (pessoa física)

IT

Technical data

Priority claims

IT

102019000017735 · 10/02/2019

Abstract

MÉTODO PARA DETECTAR A CONDIÇÃO DE OPERAÇÃO DE UM ELEMENTO ÓPTICO DISPOSTO AO LONGO DE UM CAMINHO DE PROPAGAÇÃO DE UM FEIXE DE LASER DE UMA MÁQUINA PARA PROCESSAR UM MATERIAL, SISTEMA PARA EXECUTAR O REFERIDO MÉTODO, E UMA MÁQUINA DE PROCESSAMENTO A LASER PROVIDA COM O MENCIONADO SISTEMA. São descritos um método e um sistema para detecção da condição de operação de pelo menos um elemento óptico (16) disposto ao longo de um caminho de propagação óptica de um feixe de laser de potência (B), em um cabeçote de processamento (14) de uma máquina para processamento de laser de um material, com base nas etapas de:a) Adquirir, a montante do elemento óptico (16), um sinal indicativo de uma radiação óptica que se propaga de volta coaxialmente ao caminho óptico, no comprimento de onda do feixe de laser (B); b) Adquirir, a montante do elemento óptico (16), um sinal indicativo de uma radiação óptica que se propaga de volta coaxialmente ao caminho óptico, tendo um comprimento de onda próximo do infravermelho; c) Adquirir um sinal indicativo de uma radiação óptica emitida pelo elemento óptico (16) na faixa do infravermelho, em uma região de volume (R2) próxima da superfície do elemento óptico (16); d) Adquirir um sinal ou dados em função do tempo de propagação de uma onda acústica lançada através do volume do elemento óptico (16); e) Calcular um sinal normalizado de radiação óptica na faixa do infravermelho, em função do sinal indicativo da radiação óptica na faixa do infravermelho emitida pelo elemento óptico (16), do sinal indicativo da radiação óptica que se propaga de volta em um comprimento de onda na faixa próxima do infravermelho, e do sinal indicativo da radiação óptica que se propaga de volta no comprimento de onda do feixe de laser (B); f) Calcular um sinal de radiação óptica infravermelha real como uma função do sinal de radiação óptica normalizado e do sinal em função do tempo de propagação da onda acústica através do volume do elemento óptico (16); e g) Calcular um sinal indicativo da condição de operação do elemento óptico (16) em função do sinal de radiação óptica real na faixa do infravermelho, do sinal indicativo da radiação óptica que se propaga de volta em um comprimento de onda próximo do infravermelho, e do sinal indicativo da radiação óptica que se propaga de volta no comprimento de onda do feixe de laser (B).

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Arquivamento - Art. 36 §1° da LPI

#11.2

10/21/2025

RPI 2859

Parecer de pré-exame

#6.23

07/15/2025

RPI 2845

Publicação do pedido de patente

#3.1

07/27/2021

RPI 2638

Pedido de patente depositado

#2.1

03/09/2021

RPI 2618

Exigência - art. 21 da LPI

#2.5

01/12/2021

RPI 2610

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '870200124142' em 01/10/2020 16:27 (WB)

10/13/2020

RPI 2597

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