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Dado oficial do INPI

PROCESSO PARA A FABRICAÇÃO DE UMA ESTRUTURA SEMICONDUTORA SOBRE UM SUBSTRATO

ArquivadaPatente de InvençãoPCT · US2001008824

Dados do pedido

Número

PI0109351

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

20/03/2001

Publicação

03/12/2002

PCT

US2001008824

Andamento no INPI

  1. Depósito20/03/01
  2. Publicação03/12/02
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 20/03/2001, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 18/04/2006. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

Advanced Micro Devices, INC.

US

Fujitsu Limited

JP

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Inventores

A. H. (pessoa física)

US

J. O. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

US

09/532.347 · 21/03/2000

Resumo técnico

"PROCESSO PARA A FABRICAÇÃO DE UMA ESTRUTURA SEMICONDUTORA SOBRE UM SUBSTRATO". Um processo para a formação de óxido de alto grau de qualidade com múltiplas camadas de espessura que têm diferentes espessuras, por eliminação de defeitos induzidos por remoção de escória. O processo inclui a formação de uma camada de óxido (2), o mascaramento da camada de óxido com uma camada de fotorresistor (8) e a revelação da camada de fotorresistor para expor pelo menos uma região (10) da camada de óxido. O substrato é então aquecido e tem a escória removida para remover qualquer resíduo que resulta da revelação do fotorresistor. Alternativamente, a camada de fotorresistor (8) pode ser submetida a cura antes do aquecimento e da remoção de escória do substrato. A camada de óxido (2) é então quimicamente atacada; e o fotorresistor (8) resistente é retirado antes de outra camada de óxido (14) ser aplicada sobre o substrato.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI

#11.1.1

18/04/2006

RPI 1841

Arquivamento - Art. 33 da LPI

#11.1

27/09/2005

RPI 1812

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

03/12/2002

RPI 1665

Monitoramento de patentes

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