Parecer de pré-exame
#6.23
04/08/2026
RPI 2900
Dados do pedido
Número
112022006717Tipo
Depósito
Publicação
PCT
EP2020079201 O INPI emitiu parecer técnico sobre a patenteabilidade. O depositante tem de se manifestar para o exame prosseguir.
Última movimentação publicada pelo INPI: 04/08/2026. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes
OMICRON ELECTRONICS GMBH
AT
Inventores
M. K. (pessoa física)
AT
R. N. (pessoa física)
AT
T. B. (pessoa física)
AT
Classificação IPC
Prioridades unionistas
AT
A50898/2019 · 18/10/2019
Resumo técnico
DISPOSITIVO DE TESTE SEGURO. A presente invenção refere-se a um dispositivo de teste flexível para realizar medições em um objeto de teste, de acordo com a invenção uma pluralidade (n) de componentes de segurança (11, 12, 13), cada um com um módulo de segurança (M) que pode ser ajustado para ativo ou inativo e fornecido um estado de prontidão (r), que pode ser definido como ativo ou inativo em um dispositivo de teste em formato de anel, em que os componentes de segurança (11, 12, 13) realizam ciclicamente uma série de testes de função (T), em que uma recepção cíclica sem erros de um pacote de dados (DP) é verificada como um dos testes de função (T), e em que um dos componentes de segurança (1, 11, 12, 13) é selecionado como o Busmaster (BM), que envia ciclicamente um sinal de verificação de barramento (B) em um pacote de dados (DP1) para o próximo componente de segurança (11, 12, 13) for-necido na direção da transmissão, em que o sinal de verificação de barramento (B) é encaminhado pelos componentes de segurança (11, 12, 13) em um pacote de dados (DP2, DP3), e o Busmaster (BM) estabelece um dispositivo de teste de anel fechado ao receber o sinal de verificação de barramento (B) em um pacote de dados (DP3).
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
#6.23
04/08/2026
RPI 2900
#1.3
12/07/2022
RPI 2688
#1.1
19/04/2022
RPI 2676
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