Notificação de entrada na fase nacional - PCT
#1.3
07/07/2026
RPI 2896
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Patente de Invenção MÉTODO E DISPOSITIVO PARA TESTE DE TRANSFORMADOR de OMICRON ELECTRONICS GMBH — IPC G01R 31/62. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.
Dado oficial do INPI
MÉTODO E DISPOSITIVO PARA TESTE DE TRANSFORMADOR
Em AnálisePatente de InvençãoPCT · EP2024055811
Dados do pedido
Número
112025019040Tipo
Patente de Invenção
Depósito
06/03/2024
Publicação
07/07/2026
PCT
EP2024055811 Andamento no INPI
Exame ainda não requerido- Depósito06/03/24
- Publicação
- Exame
- Deferimento
- Concessão
- Em vigor
O exame técnico ainda não foi requerido. Sem esse requerimento até 06/03/2027, o pedido é arquivado em definitivo (art. 33 da LPI).
Prazo para requerer o exame:06/03/2027(faltam 194 dias)
Última movimentação publicada pelo INPI: 07/07/2026. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes e inventores
Depositantes
OMICRON ELECTRONICS GMBH
AT
Inventores
A. C. (pessoa física)
DE
D. F. (pessoa física)
AT
D. A. (pessoa física)
AT
T. B. (pessoa física)
AT
Dados técnicos
Classificação IPC
Prioridades unionistas
AT
A50204/2023 · 17/03/2023
Resumo técnico
MÉTODO E DISPOSITIVO PARA TESTE DE TRANSFORMADOR. A presente invenção refere-se a um método (200) para teste de um transformador (180). O método compreende determinação (202) de uma inclinação de borda para um sinal de teste (702) com base no transformador (180) a ser testado, e geração (204) do sinal de teste (702) com a inclinação de borda determinada. O método também compreende teste (206) do transformador (180) usando o sinal de teste gerado (702).
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Alteração de dados cadastrais
#1.1
10/03/2026
RPI 2879
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