PROCESSO PARA OBTER MEDIDAS LINEARES DE UM OU MAIS PARÂMETROS DE UM DISPOSITIVO

IPC Classification

Priority claims

Abstract

"PROCESSO PARA OBTER MEDIDAS LINEARES DE UM OU MAIS PARÂMETROS DE UM DISPOSITIVO". A invenção é um processo para obter medidas lineares de um ou mais parâmetros p~ m~ de um dispositivo possuindo uma ou mais portas de entrada i e uma porta de saída, onde m assume valores inteiros de 1 a M, sendo M um inteiro igual ou maior que 1, i assumindo valores inteiros de 1 a I, sendo I um inteiro igual ou maior que 1. O dispositivo faz com que um ou mais sinais de entrada G~ i~(p~ m~)E~ ei~(t) que alimentam uma ou mais portas de entrada sejam transformados em um sinal de saída compreendendo um somatório em i de G~ i~(p~ m~)H~ i~(p~ m~)E~ oi~(t) na porta de saída. A função G~ i~(p~ m~) é uma função de ponderação associada com a i-ésima porta de entrada, E~ ei~(t) sendo um sinal de excitação associado com a i-ésima porta de entrada, E~ oi~(t) sendo a transformação do sinal de excitação E~ ei~(t) que resulta de E~ ei~(t) atravessando o caminho a partir da porta de entrada i para a porta de saída. Os sinais E~ ei~(t) e E~ oi~(t) são ambos independentes do parâmetro p~ m~. A função produto G~ i~(p~ m~) H~ i~(p~ m~) é representável por uma série de potência de ordem N~ im~ em p~ m~, o valor de N~ im~ dependendo de uma precisão especificada de representação. O processo compreendendo as etapas (1) geração de uma ou mais funções de ponderação de linearização G~ il~(p~ m~) para as quais o sinal de saída é uma medida linear do parâmetro p~ m~ para a precisão de representação especificada, (2) alimentação dos sinais de entrada G~ il~(p~ m~)E~ ei~(t) no dispositivo; e (3) uso de uma componente do sinal de saída como medida linear de cada um ou mais parâmetros p~ m~ .