Indeferimento
#9.2
Indeferido com base no Art. 8º combinado com o Art. 13 da LPI
10/07/2008
RPI 1970
Application data
Number
PI9602506Type
Filing
Publication
The application was refused by the INPI on 10/07/2008. The invention was never patented.
Talk to a specialistLatest action published by the INPI: 10/07/2008. We update with every new RPI gazette, published weekly.
Applicants
Y. C. (pessoa física)
JP
Inventors
H. T. (pessoa física)
JP
K. I. (pessoa física)
JP
S. F. (pessoa física)
JP
T. Y. (pessoa física)
T. W. (pessoa física)
JP
IPC Classification
Priority claims
JP
1995-178745 · 07/14/1995
JP
1996-26749 · 02/14/1996
Abstract
Patente de Invenção de "DISPOSITIVO SEMICONDUTOR DE MEDIÇÃO DE PRESSÃO DIFERENCIAL" . Este é um dispositivo semicondutor de medição de pressão diferencial que compreende dois diafragmas de medição e dois sensores de detecção fornecidos em um substrato semicondutor usando-se técnicas de microusinagem, e um circuito de computação que calcula as diferenças entre estas duas saídas de sensores: para cada um dos dois diafragmas de medição, o furo de medição de comunicação de transmissão de pressão é fornecido respectivamente para que estes dois diafragmas de medição operem em fases opostas pela pressão diferencial; e os dois sensores acima fornecidos em cada diafragma relevante e detectando o deslocamento ou deformação de cada diafragma de medição gerado pela pressão diferencial aplicada a cada diafragma de medição. A detecção das diferenças no deslocamento ou deformação de cada um destes dois diafragma de medição cancela o erro de pressão estática e o erro de temperatura e, portanto, oferece um dispositivo semicondutor de medição de pressão diferencial que possui excelentes características de temperatura e pressão estática. Além disso, o circuito de computação pode ser configurado simplesmente compondo-se um circuito de ponte requerido usando pelo menos um primeiro sensor e um segundo sensor, cada um localizado em cada um dos dois diafragmas de medição, levando a uma redução nos custos de fabricação.
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
#9.2
Indeferido com base no Art. 8º combinado com o Art. 13 da LPI
10/07/2008
RPI 1970
#7.1
06/19/2007
RPI 1902
#6.6
O requerente deverá apresentar, de acordo com o art. 34 "I" da LPI, as objeções, buscas de anterioridade e resultados de exame para concessão de pedido correspondente em outros países.
03/26/2002
RPI 1629
#3.1
09/08/1998
RPI 1446
#2.1
10/29/1996
RPI 1352
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