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Official data from INPI

DISPOSITIVO SEMICONDUTOR DE MEDIÇÃO DE PRESSÂO DIFERENCIAL

IndeferidaInvention Patent

Application data

Number

PI9602506

Type

Invention Patent

Filing

05/29/1996

Publication

09/08/1998

Progress at the INPI

Under appeal
  1. Filing05/29/96
  2. Publication09/08/98
  3. Examination
  4. Refused10/07/08
  5. Grant
  6. In force

The application was refused by the INPI on 10/07/2008. The invention was never patented.

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Latest action published by the INPI: 10/07/2008. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

Y. C. (pessoa física)

JP

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Inventors

H. T. (pessoa física)

JP

K. I. (pessoa física)

JP

S. F. (pessoa física)

JP

T. Y. (pessoa física)

T. W. (pessoa física)

JP

Technical data

IPC Classification

Priority claims

JP

1995-178745 · 07/14/1995

JP

1996-26749 · 02/14/1996

Abstract

Patente de Invenção de "DISPOSITIVO SEMICONDUTOR DE MEDIÇÃO DE PRESSÃO DIFERENCIAL" . Este é um dispositivo semicondutor de medição de pressão diferencial que compreende dois diafragmas de medição e dois sensores de detecção fornecidos em um substrato semicondutor usando-se técnicas de microusinagem, e um circuito de computação que calcula as diferenças entre estas duas saídas de sensores: para cada um dos dois diafragmas de medição, o furo de medição de comunicação de transmissão de pressão é fornecido respectivamente para que estes dois diafragmas de medição operem em fases opostas pela pressão diferencial; e os dois sensores acima fornecidos em cada diafragma relevante e detectando o deslocamento ou deformação de cada diafragma de medição gerado pela pressão diferencial aplicada a cada diafragma de medição. A detecção das diferenças no deslocamento ou deformação de cada um destes dois diafragma de medição cancela o erro de pressão estática e o erro de temperatura e, portanto, oferece um dispositivo semicondutor de medição de pressão diferencial que possui excelentes características de temperatura e pressão estática. Além disso, o circuito de computação pode ser configurado simplesmente compondo-se um circuito de ponte requerido usando pelo menos um primeiro sensor e um segundo sensor, cada um localizado em cada um dos dois diafragmas de medição, levando a uma redução nos custos de fabricação.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Indeferimento

#9.2

Indeferido com base no Art. 8º combinado com o Art. 13 da LPI

10/07/2008

RPI 1970

Conhecimento de parecer técnico

#7.1

06/19/2007

RPI 1902

Pedido suspenso — exigência de documentos

#6.6

O requerente deverá apresentar, de acordo com o art. 34 "I" da LPI, as objeções, buscas de anterioridade e resultados de exame para concessão de pedido correspondente em outros países.

03/26/2002

RPI 1629

Publicação do pedido de patente

#3.1

09/08/1998

RPI 1446

Pedido de patente depositado

#2.1

10/29/1996

RPI 1352

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