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Official data from INPI

SISTEMA E MÉTODO PARA A IDENTIFICAÇÃO E EMBALAGEM DE CORTE SUBPRIMAL

Em AnáliseInvention PatentPCT · US2023073640

Application data

Invention Patent SISTEMA E MÉTODO PARA A IDENTIFICAÇÃO E EMBALAGEM DE CORTE SUBPRIMAL — IPC A22C 17/00
Invention Patent SISTEMA E MÉTODO PARA A IDENTIFICAÇÃO E EMBALAGEM DE CORTE SUBPRIMAL — IPC A22C 17/00. Drawing published by the INPI in the Industrial Property Gazette.

Number

112025004118

Type

Invention Patent

Filing

09/07/2023

Publication

09/02/2025

PCT

US2023073640

Progress at the INPI

Examination not yet requested
  1. Filing09/07/23
  2. Publication
  3. Examination
  4. Allowance
  5. Grant
  6. In force

Examination has not been requested yet. Without that request by 09/07/2026, the application is definitively abandoned (art. 33 of the Brazilian IP Act).

Deadline to request examination:09/07/2026(13 days left)

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Latest action published by the INPI: 09/02/2025. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

J. C. (pessoa física)

US

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Inventors

G. B. (pessoa física)

US

R. S. (pessoa física)

US

Technical data

IPC Classification

Priority claims

US

63/375,215 · 09/09/2022

Abstract

SISTEMA E MÉTODO PARA A IDENTIFICAÇÃO E EMBALAGEM DE CORTE SUBPRIMAL. Um método executado por um dispositivo computacional pode incluir: receber uma pluralidade de modelos cada um associado com um tipo de corte subprimal, incluindo um formato(s) de referência para a detecção de um característica de correspondência correspondente por um tipo de varredura correspondente e incluindo uma pluralidade de faixas de valores característicos de atributos; receber uma varredura registrada de um corte subprimal incluindo varreduras mostrando características de correspondência correspondentes; identificar características de atributo para o corte subprimal usando a varredura registrada; alinhar concorrentemente formato(s) de referência de cada modelo com as características de correspondência correspondentes e calcular um valor de correspondência de formato com base no alinhamento; determinar uma correspondência de modelo melhor para a varredura registrada usando uma pluralidade de valores de correspondência de atributo calculada com base nas características de atributo identificadas comparadas com as faixas de valores característicos de atributos e a pluralidade de valores de correspondência de formato; e atribuir um tipo de corte subprimal para o corte subprimal com base na melhor correspondência de modelo.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

09/02/2025

RPI 2852

Alteração de dados cadastrais

#1.1

03/11/2025

RPI 2827

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