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Official data from INPI

MÉTODO E SISTEMA PARA DETERMINAR UMA MEDIDA DE SIMILARIDADE OU DISTÂNCIA ENTRE ESPÉCIMES BALÍSTICOS

Em ExigênciaInvention PatentPCT · CA2021051571

Application data

Number

112023008642

Type

Invention Patent

Filing

11/04/2021

Publication

07/25/2023

PCT

CA2021051571

Progress at the INPI

Technical opinion to answer
  1. Filing11/04/21
  2. Publication07/25/23
  3. Examination
  4. Allowance
  5. Grant
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Applicants and inventors

Applicants

ULTRA ELECTRONICS FORENSIC TECHNOLOGY INC.

CA

Inventors

A. B. (pessoa física)

CA

D. R. (pessoa física)

CA

S. L. (pessoa física)

CA

Technical data

IPC Classification

Priority claims

US

63/110,682 · 11/06/2020

Abstract

MÉTODO E SISTEMA PARA DETERMINAR UMA MEDIDA DE SIMILARIDADE OU DISTÂNCIA ENTRE ESPÉCIMES BALÍSTICOS.A presente invenção refere-se a métodos e sistemas para determinar uma medida de similaridade ou distância entre um primeiro espécime balístico e um segundo espécime balístico. O método compreende adquirir dados topográficos do primeiro espécime balístico e do segundo espécime balístico de pelo menos uma região de interesse; calcular, a partir dos dados topográficos, pelo menos uma pontuação de similaridade para o primeiro espécime balístico e o segundo espécime balístico; determinar uma medida de probabilidade de ausência de correspondência da pontuação de similaridade para pelo menos um parâmetro que caracteriza uma característica macroscópica e/ou microscópica dos dados topográficos, a medida de probabilidade de ausência de correspondência associando o primeiro espécime balístico e o segundo espécime balístico a uma fonte diferente; e corrigir a pontuação de similaridade ao determinar uma pontuação de similaridade corrigida que produz um mesmo valor da medida de probabilidade de ausência de correspondência como a pontuação de similaridade para um valor de referência do pelo menos um parâmetro.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Parecer de pré-exame

#6.23

05/26/2026

RPI 2890

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

07/25/2023

RPI 2742

Alteração de dados cadastrais

#1.1

05/16/2023

RPI 2732

Patent monitoring

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