Método e Sistema para analisar pelo menos um objeto sob um primeiro microscópio e um segundo microscópio e memória legível por computador não transitória

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Abstract

LIGAÇÃO DE MICROSCÓPIOS PARA ANÁLISE DE OBJETOS QUE COMPREENDEM MARCAS DE FERRAMENTAS. A presente invenção refere-se a um método para analisar pelo menos um objeto sob um primeiro microscópio e um segundo microscópio concomitantemente por união de dois microscópios. O movimento de um microscópio resultará no movimento do outro. Isso é feito computando-se uma transformação para ligar um primeiro sistema de coordenadas e um segundo sistema de coordenadas e gerar dados de orientação quando um dos dois microscópios é deslocado, sendo que os dados de orientação correspondentes a um conjunto de operações a ser aplicado ao outro microscópio seguem o movimento do microscópio que é deslocado.