Parecer de pré-exame
#6.23
08/04/2026
RPI 2900
Application data
Number
112022006717Type
Filing
Publication
PCT
EP2020079201 The INPI issued a technical opinion on patentability. The applicant must respond for examination to continue.
Latest action published by the INPI: 08/04/2026. We update with every new RPI gazette, published weekly.
Applicants
OMICRON ELECTRONICS GMBH
AT
Inventors
M. K. (pessoa física)
AT
R. N. (pessoa física)
AT
T. B. (pessoa física)
AT
IPC Classification
Priority claims
AT
A50898/2019 · 10/18/2019
Abstract
DISPOSITIVO DE TESTE SEGURO. A presente invenção refere-se a um dispositivo de teste flexível para realizar medições em um objeto de teste, de acordo com a invenção uma pluralidade (n) de componentes de segurança (11, 12, 13), cada um com um módulo de segurança (M) que pode ser ajustado para ativo ou inativo e fornecido um estado de prontidão (r), que pode ser definido como ativo ou inativo em um dispositivo de teste em formato de anel, em que os componentes de segurança (11, 12, 13) realizam ciclicamente uma série de testes de função (T), em que uma recepção cíclica sem erros de um pacote de dados (DP) é verificada como um dos testes de função (T), e em que um dos componentes de segurança (1, 11, 12, 13) é selecionado como o Busmaster (BM), que envia ciclicamente um sinal de verificação de barramento (B) em um pacote de dados (DP1) para o próximo componente de segurança (11, 12, 13) for-necido na direção da transmissão, em que o sinal de verificação de barramento (B) é encaminhado pelos componentes de segurança (11, 12, 13) em um pacote de dados (DP2, DP3), e o Busmaster (BM) estabelece um dispositivo de teste de anel fechado ao receber o sinal de verificação de barramento (B) em um pacote de dados (DP3).
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
#6.23
08/04/2026
RPI 2900
#1.3
07/12/2022
RPI 2688
#1.1
04/19/2022
RPI 2676
From the same holder
Same category
Patent monitoring
Receive alerts on INPI events, decisions, and expiry dates for your portfolio.