Invention Patent MÉTODO E DISPOSITIVO PARA TESTE DE TRANSFORMADOR de OMICRON ELECTRONICS GMBH — IPC G01R 31/62. Drawing published by the INPI in the Industrial Property Gazette.
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Latest action published by the INPI: 07/07/2026. We update with every new RPI gazette, published weekly.
MÉTODO E DISPOSITIVO PARA TESTE DE TRANSFORMADOR. A presente invenção refere-se a um método (200) para teste de um transformador (180). O método compreende determinação (202) de uma inclinação de borda para um sinal de teste (702) com base no transformador (180) a ser testado, e geração (204) do sinal de teste (702) com a inclinação de borda determinada. O método também compreende teste (206) do transformador (180) usando o sinal de teste gerado (702).
Prosecution history
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
