Notificação de entrada na fase nacional - PCT
#1.3
02/18/2026
RPI 2876
Application data
Number
112025012448Type
Filing
Publication
PCT
EP2023086292 Examination has not been requested yet. Without that request by 12/18/2026, the application is definitively abandoned (art. 33 of the Brazilian IP Act).
Deadline to request examination:12/18/2026(115 days left)
Latest action published by the INPI: 02/18/2026. We update with every new RPI gazette, published weekly.
Applicants
OMICRON ELECTRONICS GMBH
AT
Inventors
M. R. (pessoa física)
AT
R. K. (pessoa física)
AT
IPC Classification
Priority claims
AT
A50984/2022 · 12/21/2022
Abstract
SISTEMA, MÉTODO E DISPOSITIVO DE SINAL DE TESTE DE ALTA TENSÃO PARA UM TESTE MULTIFUNCIONAL DE UMA INSTALAÇÃO DE ALTA TENSÃO. A presente invenção refere-se a um sistema de teste (10) para um teste multifuncional de uma instalação de alta tensão (30) compreendendo um dispositivo de sinal de teste de alta tensão (200), um dispositivo de medição (160) e um dispositivo de controle (180). O dispositivo de sinal de teste de alta tensão (200) pode ser controlado pelo dispositivo de controle (180), em um modo de fator de perda para uma verificação do fator de perda da instalação de alta tensão e em um modo de resistência de isolamento para uma verificação da resistência de isolamento da instalação de alta tensão, de modo que ambos os testes podem ser realizados com um único e mesmo sistema de teste.
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
#1.3
02/18/2026
RPI 2876
#1.1
07/22/2025
RPI 2846
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