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Dado oficial do INPI

MÉTODO PARA A PRODUÇÃO DE SILÍCIO DE ALTA PUREZA

Arquivada/ExtintaPatente de InvençãoPCT · JP2006304199

Dados do pedido

Número

PI0609255

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

28/02/2006

Publicação

09/03/2010

PCT

JP2006304199

Andamento no INPI

  1. Depósito28/02/06
  2. Publicação09/03/10
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 23/10/2012. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

NIPPON STEEL MATERIALS CO., LTD.

JP

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Inventores

J. K. (pessoa física)

JP

K. O. (pessoa física)

JP

M. O. (pessoa física)

JP

N. I. (pessoa física)

JP

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

JP

2005-062556 · 07/03/2005

JP

2006-034342 · 10/02/2006

Resumo técnico

MÉTODO PARA A PRODUÇÃO DE SILÍCIO DE ALTA PUREZA. A presente invenção refere-se a um método para a produção de uma grande quantidade de silício de alta pureza econômico útil em uma bateria solar. É descrito um método para a produção do silício de alta pureza pela migração de impurezas no silício fundido para a escória incluindo a etapa de alimentar um agente oxidante para o silício fundido junto com a escória, em que o agente oxidante é um material compreendendo como um componente primário pelo menos um dos seguintes materiais: carbonato de metal alcalino, hidrato de carbonato de metal alcalino, hidróxido de metal alcalino, carbonato de metal alcalino-terroso, hidrato de carbonato de metal alcalino-terroso ou hidróxido de metal alcalino-terroso.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo por descumprimento

#8.11

Referente ao despacho 8.6 publicado na RPI 2161 de 05/06/2012.

23/10/2012

RPI 2181

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

Referente às 4ª, 5ª e 6ª anuidades.

05/06/2012

RPI 2161

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

09/03/2010

RPI 2044

Monitoramento de patentes

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