Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI
#11.1.1
07/04/2009
RPI 1996
Dados do pedido
Número
PI0405165Tipo
Depósito
Publicação
Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 24/11/2004, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.
Falar com um especialistaÚltima movimentação publicada pelo INPI: 07/04/2009. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes
Alcon Refractivehorizons, Inc.
US
Inventores
E. C. (pessoa física)
US
Classificação IPC
Prioridades unionistas
US
10/720,422 · 24/11/2003
Resumo técnico
"MÉTODO E APARELHO PARA CALIBRAÇÃO DE ABERROSCÓPIO E COMPENSAÇÃO DISCRETA". A presente invenção refere-se a um dispositivo de calibração para um aberroscópio que inclui um elemento ótico que é inserível em um percurso ótico de um analisador de frente de onda. O elemento ótico é adaptado para induzir uma aberração predeterminada em uma frente de onda. O elemento ótico, que pode ser transmissivo ou refletivo, pode compreender uma lente otimizada para uma potência e aberração específicas; um holograma gerado por computador; ou um modulador de luz espacial. Uma frente de onda substancialmente não aberrada é passada ao longo de um percurso ótico levando a um analisador de frente de onda. Uma aberração predeterminada é induzida na frente de onda não aberrada usando um elemento ótico posicionado no percurso ótico. A frente de onda aberrada é então analisada usando-se o analisador de frente de onda, que é calibrado usando dados gerados pelo analisador de frente de onda da frente de onda aberrada.
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
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