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Dado oficial do INPI

SISTEMA E MÉTODO PARA A IDENTIFICAÇÃO E EMBALAGEM DE CORTE SUBPRIMAL

Em AnálisePatente de InvençãoPCT · US2023073640

Dados do pedido

Patente de Invenção SISTEMA E MÉTODO PARA A IDENTIFICAÇÃO E EMBALAGEM DE CORTE SUBPRIMAL — IPC A22C 17/00
Patente de Invenção SISTEMA E MÉTODO PARA A IDENTIFICAÇÃO E EMBALAGEM DE CORTE SUBPRIMAL — IPC A22C 17/00. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.

Número

112025004118

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

07/09/2023

Publicação

02/09/2025

PCT

US2023073640

Andamento no INPI

Exame ainda não requerido
  1. Depósito07/09/23
  2. Publicação
  3. Exame
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

O exame técnico ainda não foi requerido. Sem esse requerimento até 07/09/2026, o pedido é arquivado em definitivo (art. 33 da LPI).

Prazo para requerer o exame:07/09/2026(faltam 14 dias)

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Última movimentação publicada pelo INPI: 02/09/2025. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

J. C. (pessoa física)

US

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Inventores

G. B. (pessoa física)

US

R. S. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

US

63/375,215 · 09/09/2022

Resumo técnico

SISTEMA E MÉTODO PARA A IDENTIFICAÇÃO E EMBALAGEM DE CORTE SUBPRIMAL. Um método executado por um dispositivo computacional pode incluir: receber uma pluralidade de modelos cada um associado com um tipo de corte subprimal, incluindo um formato(s) de referência para a detecção de um característica de correspondência correspondente por um tipo de varredura correspondente e incluindo uma pluralidade de faixas de valores característicos de atributos; receber uma varredura registrada de um corte subprimal incluindo varreduras mostrando características de correspondência correspondentes; identificar características de atributo para o corte subprimal usando a varredura registrada; alinhar concorrentemente formato(s) de referência de cada modelo com as características de correspondência correspondentes e calcular um valor de correspondência de formato com base no alinhamento; determinar uma correspondência de modelo melhor para a varredura registrada usando uma pluralidade de valores de correspondência de atributo calculada com base nas características de atributo identificadas comparadas com as faixas de valores característicos de atributos e a pluralidade de valores de correspondência de formato; e atribuir um tipo de corte subprimal para o corte subprimal com base na melhor correspondência de modelo.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

02/09/2025

RPI 2852

Alteração de dados cadastrais

#1.1

11/03/2025

RPI 2827

Monitoramento de patentes

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