(11) 98705-3426
TrademarkIQ íconeTrademarkIQ
Voltar para busca
Dado oficial do INPI

SISTEMA PARA DETECTAR ANOMALIAS EM DADOS MÉTRICOS FORNECIDOS POR UM OU MAIS CLIENTES, UMA OU MAIS MÍDIAS DE ARMAZENAMENTO LEGÍVEIS POR MÁQUINA NÃO TRANSITÓRIAS, E, MÉTODO DE DETECÇÃO DE ANOMALIAS EM DADOS MÉTRICOS FORNECIDOS POR UM OU MAIS CLIENTES

Em AnálisePatente de InvençãoPCT · US2021064569

Dados do pedido

Número

112023012167

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

21/12/2021

Publicação

11/07/2023

PCT

US2021064569

Andamento no INPI

  1. Depósito21/12/21
  2. Publicação
  3. Exame
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Patente de Invenção (via PCT) depositado no INPI em 21/12/2021. Aguarda exame formal e publicação na RPI.

Deixe seu contato e avisamos você

Acompanhamos as publicações do INPI e avisamos assim que houver movimentação neste processo.

Usamos seus dados apenas para este aviso.

Última movimentação publicada pelo INPI: 11/07/2023. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

GENESYS CLOUD SERVICES HOLDINGS II, LLC

US

Inventores

J. L. (pessoa física)

US

L. L. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Prioridades unionistas

US

63/128,277 · 21/12/2020

Resumo técnico

SISTEMA PARA DETECTAR ANOMALIAS EM DADOS MÉTRICOS FORNECIDOS POR UM OU MAIS CLIENTES, UMA OU MAIS MÍDIAS DE ARMAZENAMENTO LEGÍVEIS POR MÁQUINA NÃO TRANSITÓRIAS, E, MÉTODO DE DETECÇÃO DE ANOMALIAS EM DADOS MÉTRICOS FORNECIDOS POR UM OU MAIS CLIENTES. Trata-se de um sistema para detectar anomalias em dados métricos fornecidos por um ou mais clientes, de acordo com uma modalidade, que inclui pelo menos um processador e pelo menos uma memória que compreende uma pluralidade de instruções armazenadas no mesmo que, em resposta à execução por pelo menos um processador, faz com que o sistema receba dados métricos indicativos de uma pluralidade de observações baseadas em série temporal para uma métrica específica do cliente, para definir, com base nos dados métricos, uma pluralidade de parâmetros para caracterizar uma ou mais esferas, cada uma configurada para capturar uma série de observações baseadas em série temporal para a métrica específica do cliente, e para gerar, com base na pluralidade de parâmetros, a uma ou mais esferas para determinar a cobertura dos dados métricos dentro de uma ou mais esferas e detectar uma ou mais anomalias nos dados métricos.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

11/07/2023

RPI 2740

Alteração de dados cadastrais

#1.1

27/06/2023

RPI 2738

Relacionados

Do mesmo titular

Da mesma categoria

Monitoramento de patentes

Acompanhe esta patente em tempo real.

Receba alertas de despachos, decisões e vencimentos do INPI para o seu portfólio.