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Official data from INPI

PROCESSO PARA A DETERMINAÇÃO ÓTICA DE UMA GRANDEZA FISICA E INSTALAÇÃO PARA A GERAÇÃO DE SINAIS

ArquivadaInvention Patent

Application data

Number

PI9501973

Type

Invention Patent

Filing

05/09/1995

Publication

12/12/1995

Progress at the INPI

  1. Filing05/09/95
  2. Publication12/12/95
  3. Examination10/15/96
  4. Allowance07/13/99
  5. Abandoned
  6. In force

The application was allowed on 07/13/1999 but abandoned for failure to pay the grant fee (art. 38 of the Brazilian IP Act). The letters patent were never issued.

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Latest action published by the INPI: 04/18/2000. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

Abb Research Ltd

CH

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Inventors

D. N. (pessoa física)

CH

D. B. (pessoa física)

CH

Technical data

IPC Classification

Priority claims

DE

P 44 16 298.7 · 05/09/1994

Abstract

Para detectar sobretudo uma alta tensão elétrica (8) é utilizado um sensor eletroótico com um cristal eletroótico (4) como é utilizado nas células "Pockel". A partir de uma fonte de luz (L) é irradiada luz de polarização linear através de um acoplador de fibras (FK), de um cabo de fibra ótica (F1), de um colimador (K1), de um primeiro polarizador (P1), de um divisor de raios (1) de primeira e segunda placas de vidro (2, 3) para o interior do cristal eletroótico (4). Na sua superfície extrema encontra-se uma terceira placa de vidro (5) com um eletrodo de camadas (6) que atua simultaneamente como espelho (7), refletindo a luz incidente de volta através do cristal eletroótico (4). Um raio parcial (T1) da luz refletida chega, através do divisor de feixe de luz (1) e do primeiro polarizador (P1) que agora atua como analisador, de volta para um primeiro detector de luz (D1). Um segundo raio parcial (T2) chega, através de uma placa de retardo-lambda/4 (9), de um segundo polarizador (P2), de um prisma-90° (10), de um colimador (K2) e de um segundo cabo de fibra ótica (F2), a um segundo detector de luz (D2). A avaliação das intensidades de luz (I~ 1~) e (I~ 2~) ocorre com auxílio de um microprocessador (14). Pelo fato de que os dois sinais de luz deslocados em fase foram derivados de um canal ótico comum, uma refração dupla intrínseca do cristal eletroótico (4) não apresenta influência sobre a sua diferença de fase. Em lugar de um espelho (7) pode ser utilizado um prisma -90° para o retorno da luz. Os canais de entrada e de saída de luz podem estar separados. São indicados meios para a compensação de temperatura de um sinal de medida resultante (S).

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Arquivamento - Art. 38 §2° da LPI

#11.4

04/18/2000

RPI 1528

Deferimento

#9.1

07/13/1999

RPI 1488

Republicação - classificação IPC

#15.11

Alterada a classificação de G01D 15/14 e G01D 3/04 para G01R 15/24.

06/29/1999

RPI 1486

Solicitação de exame técnico

#4.1

10/15/1996

RPI 1350

Publicação do pedido de patente

#3.1

12/12/1995

RPI 1306

Pedido de patente depositado

#2.1

06/13/1995

RPI 1280

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