Arquivamento - Art. 33 da LPI
#11.1
12/19/1995
RPI 1307
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Official data from INPI
SISTEMA DE DETECÇÃO DE NÊUTRONS RÁPIDOS PARA MEDIÇÃO ACURADA DE PARÂMETROS DE MATERIAL SUBSTANCIALMENTE NÃO-HIDROGENADO CONTIDO EM UM VASO PROVIDO DE PAREDES E PROCESSO DE DETERMINAÇÃO DE CARACTERÍSTICAS DESTE MATERIAL
ArquivadaInvention PatentPCT · US1992010597
Application data
Number
PI9206877Type
Invention Patent
Filing
12/08/1992
Publication
11/28/1995
PCT
US1992010597 Progress at the INPI
- Filing12/08/92
- Publication11/28/95
- Abandoned
- Allowance
- Grant
- In force
The application was abandoned: examination was not requested within the 36 months following the 12/08/1992 filing, the deadline set by art. 33 of the Brazilian IP Act. The technology is in the public domain in Brazil.
Talk to a specialistLatest action published by the INPI: 12/19/1995. We update with every new RPI gazette, published weekly.
Applicants and inventors
Applicants
Kay-Ray/Sensall, Inc.
US
Inventors
J. D. (pessoa física)
US
Technical data
IPC Classification
Priority claims
US
804.355 · 12/09/1991
Abstract
Um sistema (14) de medição de processo utiliza retroespalhamento de nêutrons rápidos para medição de densidade, nível e interfaces de materiais substancialmente não-hidrogenados (18), isto é, materiais outros que não aqueles contendo hidrogênio. É acomodada a medição de materiais (18) em vasos (12) providos de paredes espessas. O sistema contém uma fonte (16) de nêutrons rápidos para emitir nêutrons para dentro do materal (18) a ser medido. Um sistema de detecção (26) acha-se montado próximo à fonte de nêutrons (16) para receber os nêutrons retroespalhados. Uma blindagem de degradação de energia (22) reduz o nível de energia dos nêutrons rápidos até uma faixa desejada para detecção.
Prosecution history
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
Notificação de entrada na fase nacional - PCT
#1.3
11/28/1995
RPI 1304
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