MÉTODO PARA AUTOMATICAMENTE IDENTIFICAR CANTOS E SONDAS DE CHIP DE MICRORREDE EM UMA IMAGEM ESCANEADA DE MICRORREDE DE ALTA DENSIDADE E ALTA RESOLUÇÃO

IPC Classification

Priority claims

Abstract

MÃTODO PARA AUTOMATICAMENTE IDENTIFICAR CANTOS E SONDAS DE CHIP DE MICRORREDE EM UMA IMAGEM ESCANEADA DE MICRORREDE DE ALTA DENSIDADE E ALTA RESOLUÃÃOUm método para automaticamente identificar os cantos e sondas de chip de microrrede, mesmo se não há nenhuma sonda nos cantos, em uma imagem escaneada 5 de microrrede de alta densidade e alta resolução tendo um espaço de imagem, em que o método minimiza as distorções de erro na imagem surgindo no processo de escaneamento aplicando a um algoritmo de encontrar canto de múltiplos estágios compreendendo: (a) aplicar uma transformada de Radon para uma imagem de microrrede entrante para projetar a imagem em um ângulo e espaço de distância onde é possível encontrar a orientação das linhas retas; (b) aplicar uma transformada de Fourier rápida à imagem projetada 10 de (a) para encontrar o ângulo de inclinação ótimo da imagem projetada; (c) determinar o primeiro e último local máximo ótimo para o ângulo de inclinação ótimo; (d) retroprojetar o primeiro e último máximo local determinado para o espaço de imagem para encontrar a primeira aproximação da primeira e última linhas de colunas da imagem; (e) girar a imagem e repetir os estágios (a) até (d) para encontrar a primeira aproximação das linhas de topo e fundo da imagem; (f) determinar 15 a primeira aproximação dos quatro cantos da imagem a partir da intersecção das colunas; (g) aplicar uma heurística para determinar se a primeira aproximação do estágio (f) é suficiente; e (h) opcionalmente montando a imagem escaneada em torno da primeira aproximação dos quatro cantos e repetir os estágios (a) até (f).