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Official data from INPI

SENSOR A FIBRA ÓPTICA PARA A MEDIDA IN SITU DE TENSÕES RESIDUAIS EM FILMES FINOS

ArquivadaInvention Patent

Application data

Number

PI0600011

Type

Invention Patent

Filing

01/04/2006

Publication

10/09/2007

Progress at the INPI

  1. Filing01/04/06
  2. Publication10/09/07
  3. Abandoned
  4. Allowance
  5. Grant
  6. In force

The application was abandoned: the INPI technical office action was not answered in time (art. 36 of the Brazilian IP Act). The technology is in the public domain in Brazil.

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Latest action published by the INPI: 02/27/2018. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

Faculdades Católicas (PUC - Rio)

RJ, BR

Gávea Sensors - Sistemas de Medição Ltda.

RJ, BR

Inventors

A. T. (pessoa física)

BR

A. B. (pessoa física)

BR

C. A. (pessoa física)

BR

C. L. (pessoa física)

BR

L. V. (pessoa física)

BR

M. C. (pessoa física)

BR

S. Q. (pessoa física)

BR

W. Q. (pessoa física)

BR

Technical data

IPC Classification

Abstract

SENSOR A FIBRA ÓPTICA PARA A MEDIDA IN SITU DE TENSÕES RESIDUAIS EM FILMES FINOS. É descrito um sensor a fibra óptica para medida in situ de tensões residuais em filmes finos, dito sensor compreendendo uma viga metálica não magnética 42 como substrato, sobre a qual é depositado um filme fino a partir de um fluxo de deposição 50, gerando tensões residuais que deformam o substrato; um grampo 44 para ancorar mecanicamente uma extremidade da dita viga 42, o grampo 44 tendo um ponto de inserção para a viga 42 e uma cobertura para a mesma, e onde a viga 42 e a cobertura estão separados por uma distância; uma fibra óptica 43 fixada sobre a viga 42 e contendo duas redes de Bragg, sendo uma rede para o sensoriamento somente da variação de temperatura do substrato, e outra rede afastada da primeira para o sensoriamento simultâneo da variação de temperatura e da deformação; e um analisador de espectros óptico 10 como interface do sensor, para medir a variação do comprimento de onda de Bragg da rede devido ao efeito de deformação e variação de temperatura, pelo que a medida direta da variação do comprimento de onda provê o valor da deformação a ser utilizado para determinar a tensão residual a presente na interface filme/substrato.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Arquivamento - Art. 36 §1° da LPI

#11.2

Em face da não apresentação do cumprimento de exigência publicado na RPI n° 2443 de31/10/2017, arquivo o pedido de patente conforme o disposto no art. 36 § 1° da LPI (Lei 9279 / 96)de 14/05/1996.

02/27/2018

RPI 2460

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

10/31/2017

RPI 2443

Publicação do pedido de patente

#3.1

10/09/2007

RPI 1918

Pedido de patente depositado

#2.1

03/07/2006

RPI 1835

Patent monitoring

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