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Official data from INPI

SISTEMA E MÉTODO PARA MEDIÇÃO E MAPEAMENTO DE UMA SUPERFÍCIE COM RELAÇÃO A UMA REFERÊNCIA

Em AnáliseInvention PatentPCT · AU2005001630

Application data

Number

PI0520370

Type

Invention Patent

Filing

10/20/2005

Publication

05/05/2009

PCT

AU2005001630

Progress at the INPI

  1. Filing10/20/05
  2. Publication05/05/09
  3. Examination
  4. Allowance06/07/22
  5. Grant09/27/22
  6. In force10/20/25

The patent was granted on 09/27/2022 and is in force until 10/20/2025. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.

Protection valid until:10/20/2025

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Latest action published by the INPI: 01/31/2023. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

METSO OUTOTEC FINLAND OY

FI

OUTOTEC PTY LTD

AU

SCANALYSE PTY LTD

AU

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Inventors

D. L. (pessoa física)

AU

J. F. (pessoa física)

AU

M. S. (pessoa física)

AU

Technical data

Priority claims

AU

2005903403 · 06/28/2005

Abstract

SISTEMA E MÉTODO PARA MEDIÇÃO E MAPEA- MENTO DE UMA SUPERFÍCIE COM RELAÇÃO A UMA REFERÊNCIA. Sistema e método para medição do deslocamento de uma superfície (47) em relação a uma referência de base (45), bem como para mapear o deslocamento de uma superfície da superfície (47) com relação à referência de base (45). A presente invenção possui aplicação específica para determinar o desgaste de revestimentos (27) usada em moinho de bolas (23). Um scanner a laser (11) gera dados nebulosos pontuais com relação a uma medição da orientação espacial de uma superfície distal (47) com relação a um ponto de referência para definir uma imagem tridimensional da superfície (47). Dados de referência são armazenados com relação à orientação espacial (45) com relação à superfície. Um computador (13) processa os dados nebulosos pontuais e os dados de referência de base para determinar o deslocamento relativo da superfície (47) com relação à referência de base. Isto é feito por meio de um processo de referência (57) que orienta os dados nebulosos pontuais em relação a dados de referência principais da superfície de base (45) e transforma a nuvem de pontos de dados em um sistemade coordenadas que coincide com os dados de referência de base. Um processo de processamento de deslocamento (59) então calcula o deslocamento entre a superfície (47) e a referência de base (45) utiliza ambos os conjuntos de dados no sistema de coordenadas e produz dados de deslocamento em relação ao mesmo. Um processo de comparação (67) compara os dados de deslocamento contra um limite prescrito e gera um relatório (apêndice) que graficamente exibe o resultado da comparaçao.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Transferência deferida

#25.1

01/31/2023

RPI 2717

Transferência deferida

#25.1

01/10/2023

RPI 2714

Concessão da patente

#16.1

Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 20/10/2005, observadas as condições legais. Patente concedida conforme ADI 5.529/DF, que determina a alteração do prazo de concessão.

09/27/2022

RPI 2699

100

Recorrente: O depositante. @ Despacho: Recurso conhecido e provido. Reformada a decisão recorrida e deferido o pedido. Desta data corre o prazo de 60 (sessenta) dias para o pagamento da retribuição para expedição da Carta-Patente. [100]

06/07/2022

RPI 2683

121

Recorrente: O depositante.@ Despacho: Cumpra as exigências do parecer no prazo de 60 (sessenta) dias. [121]

02/08/2022

RPI 2666

Petição de recurso

#12.2

10/17/2017

RPI 2441

Indeferimento

#9.2

07/25/2017

RPI 2429

Conhecimento de parecer técnico

#7.1

03/07/2017

RPI 2409

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

05/05/2009

RPI 2000

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