PROCESSO PARA A MEDIÇÃO SEM CONTATO DE UM OBJETO

IPC Classification

Priority claims

Abstract

"PROCESSO PARA A MEDIÇÃO SEM CONTATO DE UM OBJETO". A invenção refere-se a um processo para a medição sem contato de um objeto (6) em pelo menos uma dimensão, em que o objeto (6) é explorado em uma região efetiva espacialmente limitada de um campo de raios de exploração (1) e o tamanho do objeto (6) em termos da dimensão medida é deduzido a partir da detecção de uma ou mais interrupções dos raios de exploração (L). O campo de raios de exploração (1) é construido a partir de um número de raios individuais (L) diretamente endereçáveis, a exploração é efetuada de acordo com um padrão de etapas que pode ser previamente definido e um processo de classificação não linear é usado para a exploração. Um processo preferido usa locação binária.