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MÉTODO E SISTEMA PARA DETERMINAR E CONTROLAR A DISTÂNCIA DE SEPARAÇÃO ENTRE UM CABEÇOTE DE TRABALHO DE UMA MÁQUINA DE PROCESSAMENTO A LASER E A SUPERFÍCIE DE UM OBJETO SENDO PROCESSADO, POR MEIO DE TÉCNICAS DE INTERFEROMETRIA ÓPTICA DE BAIXA COERÊNCIA

ArquivadaInvention PatentPCT · IB2020061581

Application data

Number

112022011030

Type

Invention Patent

Filing

12/07/2020

Publication

08/16/2022

PCT

IB2020061581

Progress at the INPI

  1. Filing12/07/20
  2. Publication08/16/22
  3. Abandoned
  4. Allowance
  5. Grant
  6. In force

The application was abandoned: examination was not requested within the 36 months following the 12/07/2020 filing, the deadline set by art. 33 of the Brazilian IP Act. The technology is in the public domain in Brazil.

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Applicants and inventors

Applicants

ADIGE S.P.A

IT

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Inventors

B. P. (pessoa física)

IT

D. C. (pessoa física)

IT

S. D. (pessoa física)

IT

Technical data

IPC Classification

Priority claims

IT

102019000023181 · 12/06/2019

Abstract

MÉTODO E SISTEMA PARA DETERMINAR E CONTROLAR A DISTÂNCIA DE SEPARAÇÃO ENTRE UM CABEÇOTE DE TRABALHO DE UMA MÁQUINA DE PROCESSAMENTO A LASER E A SUPERFÍCIE DE UM OBJETO SENDOPROCESSADO, POR MEIO DE TÉCNICAS DE INTERFEROMETRIA ÓPTICA DE BAIXA COERÊNCIA.São descritos um método e um sistema para determinar e controlar a distância de separação entre um cabeçote de trabalho de uma máquina-ferramenta e a superfície de um material, compreendendo:- gerar um feixe de radiação óptica de medição de baixa coerência, conduzir o feixe de medição em direção ao material, e conduzir o feixe de medição refletido ou difundido a partir da superfície do material em direção a um arranjo de sensores ópticos interferométricos, em uma primeira direção de incidência;- gerar um feixe de radiação óptica de referência de baixa coerência, e conduzir o feixe de referência em direção ao arranjo de sensores ópticos interferométricos, em uma segunda direção de incidência, em um ângulo de incidência predefinido, em relação à primeira direção de incidência do feixe de medição;- sobrepor o feixe de medição e o feixe de referência em uma região comum de incidência do arranjo de sensores;- detectar a posição de um padrão de franjas de interferência entre o feixe de medição e o feixe de referência na região de incidência; e- determinar uma diferença no comprimento óptico entre o percurso óptico de medição e o percurso óptico de referência, com base na posição do padrão de franjas de interferência ao longo de um eixo de iluminação da região de incidência, que é indicativo de uma diferença entre (a) a distância de separação atual entre o cabeçote de trabalho e a superfície do material, e (b) uma predeterminada distância de separação nominal.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI

#11.1.1

03/05/2024

RPI 2774

Arquivamento - Art. 33 da LPI

#11.1

12/19/2023

RPI 2763

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

08/16/2022

RPI 2693

Alteração de dados cadastrais

#1.1

06/14/2022

RPI 2684

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