Concessão da patente
#16.1
Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 20/05/2016, observadas as condições legais
02/07/2023
RPI 2718
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Official data from INPI
DISPOSITIVO DE TESTE PARA TESTAR UM EXEMPLAR DE TESTE, SISTEMA E MÉTODO PARA CONTROLAR UM DISPOSITIVO DE TESTE
ConcedidaInvention PatentPCT · EP2016061401
Application data
Number
112017016145Type
Invention Patent
Filing
05/20/2016
Publication
04/17/2018
PCT
EP2016061401 Progress at the INPI
- Filing05/20/16
- Publication04/17/18
- Examination
- Allowance12/06/22
- Grant02/07/23
- In force05/20/36
The patent was granted on 02/07/2023 and is in force until 05/20/2036. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.
Protection valid until:05/20/2036
Latest action published by the INPI: 02/07/2023. We update with every new RPI gazette, published weekly.
Applicants and inventors
Applicants
OMICRON ELECTRONICS GMBH
AT
Inventors
D. F. (pessoa física)
AT
R. K. (pessoa física)
AT
Technical data
IPC Classification
Priority claims
AT
A50503/2015 · 06/17/2015
Abstract
A presente invenção refere-se a um dispositivo de teste e método para operar um dispositivo de teste. Um dispositivo de teste (10) está configurado para testar um exemplar de teste (70) o qual possui um indutor (71). O dispositivo de teste (10) inclui uma unidade controlável (35) para reduzir a intensidade de corrente de uma corrente que flui no indutor (33).
Prosecution history
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
Deferimento
#9.1
12/06/2022
RPI 2709
Conhecimento de parecer técnico
#7.1
09/06/2022
RPI 2696
Exigência preliminar
#6.21
07/21/2020
RPI 2585
Notificação de entrada na fase nacional - PCT
#1.3
04/17/2018
RPI 2467
Alteração de dados cadastrais
#1.1
08/08/2017
RPI 2431
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