(11) 98705-3426
TrademarkIQ iconTrademarkIQ
Back to search
Official data from INPI

MÉTODO DE INSPEÇÃO

Em AnáliseInvention PatentPCT · IB2011050704

Application data

Number

112012024975

Type

Invention Patent

Filing

02/21/2011

Publication

09/01/2020

PCT

IB2011050704

Progress at the INPI

  1. Filing02/21/11
  2. Publication09/01/20
  3. Examination
  4. Allowance06/29/21
  5. Grant08/17/21
  6. In force02/21/31

The patent was granted on 08/17/2021 and is in force until 02/21/2031. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.

Protection valid until:02/21/2031

Leave your contact and we will alert you

We track INPI publications and let you know as soon as this case moves.

We use your details only for this alert.

Latest action published by the INPI: 08/15/2023. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

KIMBERLY-CLARK BRASIL INDÚSTRIA E COMÉRCIO DE PRODUTOS DE HIGIENE LTDA.

SP, BR

KIMBERLY-CLARK EDE HOLDINGS B.V.

PB

KIMBERLY-CLARK WORLDWIDE, INC.

US

MMC BRASIL INDÚSTRIA E COMÉRCIO LTDA.

SP, BR

See this company's full portfolio

Inventors

B. S. (pessoa física)

US

D. H. (pessoa física)

US

G. B. (pessoa física)

US

J. S. (pessoa física)

US

K. S. (pessoa física)

US

M. D. (pessoa física)

SU

M. W. (pessoa física)

US

V. K. (pessoa física)

US

Technical data

Priority claims

US

12/750,331 · 03/30/2010

Abstract

MÉTODO DE INSPEÇÃO E SISTEMA PARA MONITORAR DEFEITOSA presente invenção trata de sistemas e métodos de registro e inspeção para uso em um bobinador. Os sistemas e métodos incluem varrer uma região próxima de um módulo de bobinamento com um ou mais sensores para determinar um defeito de produto. O defeito de produto é então associado a um parâmetro de processo de bobinamento, tais como informações de percentagem de formação de rola ou identidade do sensor específico a primeiramente detectar o defeito. O parâmetro de processo de bobinamento é utilizado para classificar o defeito em um ou mais perfis de defeito. Os perfis de defeito podem ser baseados, pelo menos em parte, na segmentação da formação de rolo de uma trama sobre um módulo de bobinamento em uma pluralidade de janelas de inspeção e segmentação de uma pluralidade de sensores em uma pluralidade de segmentos de sensor de inspeção.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Transferência deferida

#25.1

08/15/2023

RPI 2745

Transferência deferida

#25.1

07/25/2023

RPI 2742

Transferência deferida

#25.1

07/04/2023

RPI 2739

Concessão da patente

#16.1

20 (vinte) anos contados a partir de 21/02/2011, observadas as condições legais

08/17/2021

RPI 2641

Deferimento

#9.1

06/29/2021

RPI 2634

Exigência preliminar

#6.21

10/27/2020

RPI 2599

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

09/01/2020

RPI 2591

Alteração de dados cadastrais

#1.1

12/31/2013

RPI 2243

Patent monitoring

Track this patent in real time.

Receive alerts on INPI events, decisions, and expiry dates for your portfolio.