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Dado oficial do INPI

MÉTODOS PARA FORMAÇÃO DE IMAGEM PARA DIAGNÓSTICO DE CONTRASTE INTENSIFICADO PARA MONITORAR TERAPIAS INTERVENTIVAS

ArquivadaPatente de InvençãoPCT · US1998020182

Dados do pedido

Número

PI9812716

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

24/09/1998

Publicação

22/08/2000

PCT

US1998020182

Andamento no INPI

  1. Depósito24/09/98
  2. Publicação22/08/00
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 24/09/1998, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 06/07/2004. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

Epix Medical, Inc

US

Inventores

R. L. (pessoa física)

US

S. D. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

US

08/942,989 · 02/10/1997

Resumo técnico

Patente de Invenção: "MÉTODOS PARA FORMAÇÃO DE IMAGEM PARA DIAGNÓSTICO DE CONTRASTE INTENSIFICADO PARA MONITORAR TERAPIAS INTERVENTIVAS" . A presente invenção refere-se à um método para formação de imagem para diagnóstico de contraste intensificado para monitorar a eficácia de terapias interventivas. Os agentes de contraste úteis para este método contêm uma porção intensificadora de imagem (IEM) e uma porção de ligação ao tecido dependente do estado (SDTBM). Esses agentes de contraste exibem ligação dependente do estado a um ou mais componentes e proporcionam uma mudança detectável nas características do sinal do agente de contraste uma vez ligado ao tecido ou componente do tecido alvo. Como resultado, esses agentes exibem uma afinidade de ligação para, e desse modo contraste de imagem, com o tecido alvo que se altera à medida que o estado do tecido se altera durante a terapia.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI

#11.1.1

06/07/2004

RPI 1748

Arquivamento - Art. 33 da LPI

#11.1

18/11/2003

RPI 1715

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

22/08/2000

RPI 1546

Monitoramento de patentes

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