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Dado oficial do INPI

SISTEMA DE INSPEÇÃO DO TIPO SEM CONTATO.

Arquivada/ExtintaPatente de InvençãoPCT · JP1997001499

Dados do pedido

Número

PI9702250

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

01/05/1997

Publicação

17/02/1999

PCT

JP1997001499

Andamento no INPI

  1. Depósito01/05/97
  2. Publicação17/02/99
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 20/12/2005. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

Eisai CO., LTD

JP

Sankyo Manufacturing CO., LTD

JP

Ver toda a carteira desta empresa

Inventores

H. K. (pessoa física)

JP

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

JP

8-111757 · 02/05/1996

Resumo técnico

"SISTEMA DE INSPEÇÃO DO TIPO SEM CONTATO" , compreendendo um sistema de inspeção do tipo sem contato para inspeção de amostras de teste sendo transportadas, usando um dispositivo de inspeção do tipo sem contato, para avaliar a qualidade das amostras de teste automaticamente. O sistema de inspeção do tipo sem contato compreende uma mesa giratória anular que é girada para transportar amostras de teste, uma mesa de montagem do dispositivo de inspeção dispostas dentro e fora da mesa giratória, e tendo uma câmara CCD e similares como um dispositivo de inspeção do tipo sem contato para inspeção das amostras de teste sendo montado na mesa de montagem do dispositivo de inspeção, um cabeçote giratório que é suportado acima da mesa giratória e giratório sobre o centro de rotação da mesa giratória para reter as porções superiores das amostras de teste sendo transportadas pela mesa giratória, e um mecanismo de intertravamento para girar o cabeçote giratório em sincronia com a mesa giratória. Com esta construção, a capacidade de inspeção do dispositivo de inspeção do tipo sem contato pode ser obtida em uma extensão do tipo sem contato pode ser obtida em uma extensão satisfatória, o layout do dispositivo de inspeção pode ser projetado livremente, e a inspeção das amostras de teste pelo dispositivo deinspeção pode ser executada com uma alta precisão e numa faixa ampla.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

referente á 8ª anuidade.

20/12/2005

RPI 1824

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

17/02/1999

RPI 1467

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