Arquivamento - Art. 33 da LPI
#11.1
21/03/2000
RPI 1524
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Dado oficial do INPI
PROCESSO PARA A MEDIÇÃO DA PROFUNDIDADE DE UMA MICROESTRUTURA
ArquivadaPatente de InvençãoPCT · DE1995000783
Dados do pedido
Número
PI9508275Tipo
Patente de Invenção
Depósito
10/06/1995
Publicação
04/11/1997
PCT
DE1995000783 Andamento no INPI
- Depósito10/06/95
- Publicação04/11/97
- Arquivado
- Deferimento
- Concessão
- Em vigor
Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 10/06/1995, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.
Falar com um especialistaÚltima movimentação publicada pelo INPI: 21/03/2000. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes e inventores
Depositantes
Leonhard Kurz GmbH & Co.
DE
Inventores
H. W. (pessoa física)
DE
Dados técnicos
Classificação IPC
Prioridades unionistas
DE
P 44 24 565.3 · 13/07/1994
Resumo técnico
Patente de INvenção: "PROCESSO PARA A MEDIÇÃO DA PROFUNDIDADE DE UMA MICROESTRUTURA" . É sugerido um processo para medição da profundidade de uma microestrutura durante a transferência da estrutura, por meio de um processo de estampar em uma camada moldável, no qual na microestrutura a ser transferida está prevista uma estrutura da grade de referência está prevista uma estrutura da grade de referência geometricamente simples. Essa estrutura de garde de referência produz uma interferência de um raio de luz de medição. A distribuição de luz resultante produz, então, uma medida para a profundidade da estrutura visada.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Notificação de entrada na fase nacional - PCT
#1.3
04/11/1997
RPI 1405
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