Arquivamento - Art. 33 da LPI
#11.1
20/09/1994
RPI 1242
Dados do pedido
Número
PI9007810Tipo
Depósito
Publicação
PCT
FR1990000784 Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 30/10/1990, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.
Falar com um especialistaÚltima movimentação publicada pelo INPI: 20/09/1994. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes
Spiral Recherche et Développement S.A.R.L., empresa francesa
FR
Inventores
F. F. (pessoa física)
FR
J. G. (pessoa física)
FR
Classificação IPC
Prioridades unionistas
FR
89-14289 · 31/10/1989
Resumo técnico
A presente invenção refere-se a um processo espectroscópico discriminatório para microscopia ótica de varredura em campo evanescente frustrado do tipo que permite obter o perfil ótico normal de um objeto transparente, caracterizado pelo fato de provocar uma variação diferencial de pelo menos uma das magnitudes físicas das quais depende a intensidade I do campo evanescente frustrado, ou seja: o comprimento de onda da radiação eletro-magnética, dirigida sobre o lado inferior da face de um corpo transparente, tal como um prisma e que gera o dito campo próximo pela reflexão interna total, o índice de refração ótica n1 do dito corpo transparente, o índice médio de refração ótica n2 do objeto transparente localizado no topo de dita face e o ângulo de incidência q de dita radiação eletro-magnética sobre dita face, de modo a obter uma variação concomitante dI da dita intensidade I, provavelmente a ser interpretada como um perfil ótico diferencial do dito objeto transparente em comparação com pelo menos uma das magnitudes físicas, ou prover um perfil ótico modificado do dito perfil ótico "normal" deste objeto.
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
#11.1
20/09/1994
RPI 1242
#1.3
01/09/1992
RPI 1135
Do mesmo titular
Da mesma categoria
Monitoramento de patentes
Receba alertas de despachos, decisões e vencimentos do INPI para o seu portfólio.