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Dado oficial do INPI

PROCESSO ESPECTROSCÓPICO DISCRIMINATÓRIO DO PERFIL ÓTICO DE UM OBJETO TRANSPARENTE OBTIDO PELA MICROSCÓPIA ÓTICA DE VARREDURA EM CAMPO EVANESCENTE FRUSTRADO E MICROSCÓPIO DE VARREDURA EM CAMPO EVANESCENTE FRUSTRADO

ArquivadaPatente de InvençãoPCT · FR1990000784

Dados do pedido

Número

PI9007810

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

30/10/1990

Publicação

01/09/1992

PCT

FR1990000784

Andamento no INPI

  1. Depósito30/10/90
  2. Publicação01/09/92
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 30/10/1990, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 20/09/1994. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

Spiral Recherche et Développement S.A.R.L., empresa francesa

FR

Inventores

F. F. (pessoa física)

FR

J. G. (pessoa física)

FR

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

FR

89-14289 · 31/10/1989

Resumo técnico

A presente invenção refere-se a um processo espectroscópico discriminatório para microscopia ótica de varredura em campo evanescente frustrado do tipo que permite obter o perfil ótico normal de um objeto transparente, caracterizado pelo fato de provocar uma variação diferencial de pelo menos uma das magnitudes físicas das quais depende a intensidade I do campo evanescente frustrado, ou seja: o comprimento de onda da radiação eletro-magnética, dirigida sobre o lado inferior da face de um corpo transparente, tal como um prisma e que gera o dito campo próximo pela reflexão interna total, o índice de refração ótica n1 do dito corpo transparente, o índice médio de refração ótica n2 do objeto transparente localizado no topo de dita face e o ângulo de incidência q de dita radiação eletro-magnética sobre dita face, de modo a obter uma variação concomitante dI da dita intensidade I, provavelmente a ser interpretada como um perfil ótico diferencial do dito objeto transparente em comparação com pelo menos uma das magnitudes físicas, ou prover um perfil ótico modificado do dito perfil ótico "normal" deste objeto.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento - Art. 33 da LPI

#11.1

20/09/1994

RPI 1242

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

01/09/1992

RPI 1135

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