Arquivamento - Art. 33 da LPI
#11.1
20/09/1994
RPI 1242
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Dado oficial do INPI
PROCESSO DE ANÁLISE ESPECTROSCÓPICA PONTUAL DA LUZ DIFRATADA OU ABSORVIDA POR UMA SUBSTÂNCIA TRANSPARENTE E/OU REFLETIVA COLOCADA EM UM CAMPO PRÓXIMA E MICROSCÓPIO ÓPTICO POR VARREDURA EM CAMPO PRÓXIMO
ArquivadaPatente de InvençãoPCT · FR1990000791
Dados do pedido
Número
PI9007809Tipo
Patente de Invenção
Depósito
31/10/1990
Publicação
01/09/1992
PCT
FR1990000791 Andamento no INPI
- Depósito31/10/90
- Publicação01/09/92
- Arquivado
- Deferimento
- Concessão
- Em vigor
Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 31/10/1990, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.
Falar com um especialistaÚltima movimentação publicada pelo INPI: 20/09/1994. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes e inventores
Depositantes
Spiral Recherche et Développement S.A.R.L., empresa francesa
FR
Inventores
F. F. (pessoa física)
FR
J. G. (pessoa física)
FR
Dados técnicos
Classificação IPC
Prioridades unionistas
FR
89-14425 · 03/11/1989
Resumo técnico
Refere-se a presente invenção a um processo de análise espectroscópica pontual da luz difratada ou absorvida por uma substância transparente e/ou refletiva, colocada em um campo próximo, gerado em transmissão ou em reflexão por uma primeira irradiação eletro-magnética, caracterizado pelo fato de que se faz uma análise espectroscópica pontual do referido campo próximo e/ou de uma segunda irradiação eletro-magnética, orientada simultaneamente com a referida primeira irradiação sobre a referida substância, a referida análise dizendo respeito à fração do citado campo próximo ou da citada segunda irradiação eletro-magnética tendo interagido com a referida substância. A presente invenção destina-se, mais particularmente, ao estudo espectroscópico em alta resolução de substâncias transparentes e/ou refletiva, das quais se obtém simultaneamente o perfil óptico ou o perfil geométrico, por meio de um microscópio óptico por varredura em campo próximo, tal como um microscópio por transmissão em campo evanescente frustrado, ou um microscópio por reflexão em campo próximo guiado.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Notificação de entrada na fase nacional - PCT
#1.3
01/09/1992
RPI 1135
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