Concessão da patente
#16.1
05/06/2018
RPI 2474
Dados do pedido
Número
PI0618680Tipo
Depósito
Publicação
PCT
JP2006322762 Patente concedida em 05/06/2018 e em vigor até 15/11/2026. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.
Proteção válida até:15/11/2026
Última movimentação publicada pelo INPI: 05/06/2018. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes
ISHIDA CO., LTD.
JP
Inventores
O. H. (pessoa física)
JP
Classificação IPC
Prioridades unionistas
JP
2005-331540 · 16/11/2005
Resumo técnico
DISPOSITIVO PARA INSPEÇÃO POR RAIO X. Com o objetivo de fornecer um xx capaz de estimar com precisão elevada a massa do material pela eliminação da influência dos vários fatores inconstantes, como as características da energia do raio X e do filtro específico, um aparelho de inspeção de raio X (10) compreende uma unidade de obtenção de imagem da amostra (31), uma unidade geradora da curva ideal (32), uma unidade de ajustamento da curva (33) e uma unidade de estimativa da massa (34), como um bloco de função gerado pelo computador de controle (20). A unidade de obtenção da imagem da amostra (31) obtém 10 imagens de transmissão por raio X de produtos G, cujas massas são previamente conhecidas. A unidade geradora da curva ideal (32) gera uma ta- bela baseada na fórmula que indica uma relação entre o brilho de uma área incluída nas imagens de transmissão por raio X e a massa estimada da área. A unidade de ajustamento da curva (33) refere-se à massa real de entrada de cada imagem de transmissão por raio X, e ajusta a tabela de modo que a massa estimada se aproxime da massa real. A unidade de estimativa da massa (34) determina a massa estimada por área com base na tabela pós-ajustada, e soma estas massas com o intuito de determinar a massa total estimada do produto G.
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
#16.1
05/06/2018
RPI 2474
#9.1
26/12/2017
RPI 2451
#6.1
12/09/2017
RPI 2436
#1.3
06/09/2011
RPI 2122
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