Arquivamento definitivo por descumprimento
#8.11
Referente ao despacho 8.6 publicado na RPI 2212 de 28/05/2013.
11/02/2014
RPI 2249
Dados do pedido
Número
PI0609587Tipo
Depósito
Publicação
PCT
US2006008829 Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.
Falar com um especialistaÚltima movimentação publicada pelo INPI: 11/02/2014. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes
Avantor Performance Materials, Inc.
US
MALLINCKRODT BAKER, INC.
US
Inventores
S. K. (pessoa física)
US
S. L. (pessoa física)
US
Classificação IPC
Prioridades unionistas
US
60/667,932 · 04/04/2005
Resumo técnico
PROCESSO DE DECAPAGEM E LIMPEZA DE FEOL, PARA REMOVER O FOTORESISTOR IMPLANTADO COM ÍONS, NÃO-DECAPADO DE UM SUBSTRATO DE LÂMINAS DE SÍLICIO. A presente invenção refere-se a uma composição de decapagem e limpeza na extremidade frontal da linha, para remover fotoresistor implantado com lons, não-decapado, de um substrato de lâmina de silício, compreendendo: (a) pelo menos um solvente orgânico de decapagem; (b) lons fluoreto de pelo menos um entre fluoreto de amônio, bifluoreto de amônio ou fluoreto de hidrogênio; (c) pelo menos um agente acidificante selecionado entre ácidos inorgânicos ou orgânicos; e (d) água, sendo que um agente oxidante também está opcionalmente presente na composição.
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
#8.11
Referente ao despacho 8.6 publicado na RPI 2212 de 28/05/2013.
11/02/2014
RPI 2249
#8.6
Referente á 7ª anui dade.
28/05/2013
RPI 2212
#25.4
Nome Alterado de: Mallinckrodt Baker, Inc.
09/08/2011
RPI 2118
#1.3
20/04/2010
RPI 2050
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