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Dado oficial do INPI

PROCESSO PARA A SÍNTESE DE MISTURAS DE METANO DIFENIL DIAMINA E SEUS HOMÓLOGOS SUPERIORES COM UMA DISTRIBUIÇÃO ISOMÉRICA CONTROLADA

Arquivada/ExtintaPatente de InvençãoPCT · EP2002004714

Dados do pedido

Número

PI0209344

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

29/04/2002

Publicação

15/06/2004

PCT

EP2002004714

Andamento no INPI

  1. Depósito29/04/02
  2. Publicação15/06/04
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 12/08/2014. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

Dow Global Technologies INC.

US

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Inventores

A. A. (pessoa física)

IT

A. B. (pessoa física)

IT

C. P. (pessoa física)

IT

O. F. (pessoa física)

IT

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

IT

MI01A000880 · 27/04/2001

Resumo técnico

"PROCESSO PARA A SÍNTESE DE MISTURAS DE METANO DIFENIL DIAMINA E SEUS HOMÓLOGOS SUPERIORES COM UMA DISTRIBUIÇÃO ISOMÉRICA CONTROLADA". Processo para preparar metano difenil diamina (MDA) ou uma mistura de metano difenil diamina (MDA) e seus homólogos superiores com uma distribuição isomérica controlada usando um zeólito modificado tendo "seletividade de forma". A mistura contém compostos tendo a formula geral (I) seguinte: onde R representa um átomo de hidrogênio ou um grupo (iso)alquila de C1 até C8, um grupo cicloalquila de C4 até C10 ou um grupo aromático de C6 até C12 e n é um número inteiro maior ou igual a um de modo a dar uma funcionalidade de 2 até 6.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo por descumprimento

#8.11

Referente ao despacho 8.6 publicado na RPI 2259 de 22/04/2014.

12/08/2014

RPI 2275

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

Referente à 12ª anuidade.

22/04/2014

RPI 2259

Conhecimento de parecer técnico

#7.1

13/12/2011

RPI 2136

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

15/06/2004

RPI 1745

Monitoramento de patentes

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