Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI
#11.1.1
18/04/2006
RPI 1841
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Dado oficial do INPI
VERIFICAÇÃO DE ADORNO DE CÉLULA DE REFERÊNCIA AUTOMATIZADA
ArquivadaPatente de InvençãoPCT · US2001007983
Dados do pedido
Número
PI0109213Tipo
Patente de Invenção
Depósito
12/03/2001
Publicação
03/06/2003
PCT
US2001007983 Andamento no INPI
- Depósito12/03/01
- Publicação03/06/03
- Arquivado
- Deferimento
- Concessão
- Em vigor
Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 12/03/2001, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.
Falar com um especialistaÚltima movimentação publicada pelo INPI: 18/04/2006. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes e inventores
Depositantes
Advanced Micro Devices, INC.
US
Inventores
C. B. (pessoa física)
US
F. P. (pessoa física)
US
Dados técnicos
Classificação IPC
Prioridades unionistas
US
09/524.897 · 14/03/2000
Resumo técnico
"VERIFICAÇÃO DE ADORNO DE CÉLULA DE REFERÊNCIA AUTOMATIZADA". Um circuito e método de verificação de adorno de referência é fornecido para efetuar uma operação de verificação de programa em um transistor de célula de referência em uma malha de células de memória EEPROM Flash. Um ramal de corrente de referência (14) é utilizado para gerar uma corrente de referência que corresponde a uma voltagem de "overdrive" predeterminada da célula de referência a ser programada. Um ramal de corrente de dreno (16) é acoplado ao transistor de célula de referência a ser programada e gera uma corrente de dreno a uma voltagem de portal fixa aplicada em seu portal de controle e a uma voltagem de dreno predeterminada aplicada a seu dreno quando a corrente de dreno está no nível desejado. Um comparador (18) é utilizado para comparar uma voltagem sentida que corresponde à corrente de dreno e uma voltagem de referência que corresponde à corrente de referência. O comparador gera um sinal de saída que está em um nível lógico baixo quando a voltagem sentida é inferior à voltagem de referência e que está em um nível lógico alto quando a voltagem sentida é maior do que a voltagem de referência. Um pulso de programa é aplicado ao transistor de referência cada vez que o comparador gera o nível lógico baixo e termina o pulso de programa quando o comparador gera o nível lógico alto.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Arquivamento - Art. 33 da LPI
#11.1
27/09/2005
RPI 1812
Notificação de entrada na fase nacional - PCT
#1.3
03/06/2003
RPI 1691
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