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Dado oficial do INPI

SISTEMA DE FEIXE DE ÍONS PARA IRRADIAR TECIDOS DE TUMORES

Arquivada/ExtintaPatente de InvençãoPCT · EP2001002575

Dados do pedido

Número

PI0108976

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

07/03/2001

Publicação

03/06/2003

PCT

EP2001002575

Andamento no INPI

  1. Depósito07/03/01
  2. Publicação03/06/03
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 21/12/2010. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

G. M. (pessoa física)

DE

Inventores

G. K. (pessoa física)

DE

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

DE

100 10 523.8 · 07/03/2000

Resumo técnico

"SISTEMA DE FEIXE DE ÍONS PARA IRRADIAR TECIDOS DE TUMORES". A invenção refere-se a um sistema de feixe de íons para irradiar tecidos de tumores em vários ângulos de irradiação em relação a um leito do paciente disposto horizontalmente e a um método de executar as irradiações, em que o leito do paciente tem um aparelho para rotação ao redor de um eixo geométrico vertical e o sistema de feixe de íons tem pelo menos um dos seguintes sistemas de irradiação: um primeiro sistema de irradiação que tem um sistema de escaneamento assimétrico de localização fixa, o qual tem uma região de deflexão de feixe de íons central para ângulos de deflexão de até 150 com respeito à direção horizontal e torna possível o escaneamento de um volume de tumor na região de deflexão de feixe de íons central, e o qual tem um dispositivo de elevação adicional para o leito do paciente; um segundo sistema de irradiação, o qual tem um aparelho de deflexão de feixe de íons para um ângulo de deflexão maior do que o primeiro sistema de irradiação e uma unidade de escaneamento simétrica para escanear o volume de tumor, cuja unidade de escaneamento está disposta a jusante do aparelho de deflexão de feixe de íons e está disposta para articular sincronizadamente com o ângulo de deflexão do aparelho de deflexão de feixe de íons.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo por descumprimento

#8.11

Referente ao despacho 8.6 da RPI 2021 DE 29/09/2009.

21/12/2010

RPI 2085

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

Referente a 8ª anuidade(s).

29/09/2009

RPI 2021

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

03/06/2003

RPI 1691

Monitoramento de patentes

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