Arquivamento definitivo por descumprimento
#8.11
Referente ao despacho 8.6 da RPI 2021 DE 29/09/2009.
21/12/2010
RPI 2085
Dados do pedido
Número
PI0108976Tipo
Depósito
Publicação
PCT
EP2001002575 Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.
Falar com um especialistaÚltima movimentação publicada pelo INPI: 21/12/2010. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes
G. M. (pessoa física)
DE
Inventores
G. K. (pessoa física)
DE
Classificação IPC
Prioridades unionistas
DE
100 10 523.8 · 07/03/2000
Resumo técnico
"SISTEMA DE FEIXE DE ÍONS PARA IRRADIAR TECIDOS DE TUMORES". A invenção refere-se a um sistema de feixe de íons para irradiar tecidos de tumores em vários ângulos de irradiação em relação a um leito do paciente disposto horizontalmente e a um método de executar as irradiações, em que o leito do paciente tem um aparelho para rotação ao redor de um eixo geométrico vertical e o sistema de feixe de íons tem pelo menos um dos seguintes sistemas de irradiação: um primeiro sistema de irradiação que tem um sistema de escaneamento assimétrico de localização fixa, o qual tem uma região de deflexão de feixe de íons central para ângulos de deflexão de até 150 com respeito à direção horizontal e torna possível o escaneamento de um volume de tumor na região de deflexão de feixe de íons central, e o qual tem um dispositivo de elevação adicional para o leito do paciente; um segundo sistema de irradiação, o qual tem um aparelho de deflexão de feixe de íons para um ângulo de deflexão maior do que o primeiro sistema de irradiação e uma unidade de escaneamento simétrica para escanear o volume de tumor, cuja unidade de escaneamento está disposta a jusante do aparelho de deflexão de feixe de íons e está disposta para articular sincronizadamente com o ângulo de deflexão do aparelho de deflexão de feixe de íons.
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
#8.11
Referente ao despacho 8.6 da RPI 2021 DE 29/09/2009.
21/12/2010
RPI 2085
#8.6
Referente a 8ª anuidade(s).
29/09/2009
RPI 2021
#1.3
03/06/2003
RPI 1691
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Monitoramento de patentes
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