Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI
#11.1.1
17/08/2004
RPI 1754
Dados do pedido
Número
PI0017073Tipo
Depósito
Publicação
PCT
EP2000000713 Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 29/01/2000, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.
Falar com um especialistaÚltima movimentação publicada pelo INPI: 17/08/2004. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes
ABB Research LTD.
CH
Inventores
G. V. (pessoa física)
DE
J. K. (pessoa física)
BE
M. G. (pessoa física)
DE
R. M. (pessoa física)
DE
Classificação IPC
Resumo técnico
"SISTEMA E PROCESSO PARA DETERMINAÇÃO DA EFICÁCIA DO CONJUNTO DE PRODUÇÃO, DE OCORRÊNCIAS DE FALHAS E DE CAUSAS DE FALHAS". A invenção refere-se a um processo e a um sistema para determinação da eficácia (eficácia global do equipamento OEE) de conjuntos de produção (1) de diferentes tipos, de ocorrências de falhas significativas que produzem desvios de uma eficácia teórica predeterminada, bem como das causas das ocorrências de falhas. O respectivo conjunto de produção (1) está vinculado com um conjunto coletor de dados (2) configurado para registro contínuo e memorização pronta para a chamada de dados relativos ao conjunto e à produção. Um conjunto servidor (3) que pode ser acoplado ao respectivo conjunto coletor de dados (2) do respectivo conjunto de produção (1) apresenta: Meios de alimentação (6, 12) para alimentar dados descritivos adicionais, relativos ao conjunto e à produção e que não podem ser chamados a partir do conjunto coletor de dados (2), meios indicadores (7, 11, 13, 14) para indicação da eficácia determinada (11), das ocorrências de falhas (13) significativas e de causas de falhas (14), bem como um componente sistêmico online (4) configurado para chamar do conjunto coletor de dados (2) dados relativos ao conjunto e à produção, calculando a eficácia (21), reconhecendo ocorrências de falhas (22), determinando ocorrências de falhas significativas por uma avaliação de ocorrência de falhas (23) e determinar as causas de falhas (24) e um componente sistêmico off-line (5) que contém vários modelos de falhas genéricos (36) e modelos de avaliação (36) e que está configurado para pesquisar (27), configurar (25), memorizar (35) estes modelos (36) baseado nos dados descritivos, memorizando-os no componente sistêmico online (4) em forma de modelo de avaliação configurado (32), ou seja, como modelo de falha (33) configurado.
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
#11.1.1
17/08/2004
RPI 1754
#11.1
23/12/2003
RPI 1720
#3.1
22/10/2002
RPI 1659
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