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Dado oficial do INPI

PROCESSO PARA FORMAÇÃO GALVÂNICA DE ESTRUTURAS CONDUTORAS DE COBRE DE ALTA PUREZA NA PRODUÇÃO DE CIRCUITOS INTEGRADOS

Arquivada/ExtintaPatente de InvençãoPCT · DE2000000133

Dados do pedido

Número

PI0007639

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

11/01/2000

Publicação

06/11/2001

PCT

DE2000000133

Andamento no INPI

  1. Depósito11/01/00
  2. Publicação06/11/01
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 13/12/2011. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

Atotech Deutschland GMBH

DE

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Inventores

A. T. (pessoa física)

DE

H. M. (pessoa física)

DE

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

DE

199 03 178.9 · 21/01/1999

DE

199 15 146.6 · 26/03/1999

Resumo técnico

Patente de Invenção: "PROCESSO PARA FORMAÇÃO GALVÂNICA DE ESTRUTURAS CONDUTORAS DE COBRE DE ALTA PUREZA NA PRODUÇÃO DE CIRCUITOS INTEGRADOS". A invenção refere-se a um processo para a formação galvânica de estruturas condutoras de cobre de alta pureza sobre superfícies de substratos semicondutores (wafers) 1, dotadas de cavidades 2, na produção de circuitos integrados. O processo compreende os seguintes passos de processo: a. revestimento das superfícies dos substratos semicondutores 1, dotadas de cavidades 2, com uma camada metálica básica de superfície total, para obter uma condutibilidade suficiente para a precipitação galvânica; b. precipitação em superfície total de camadas de cobre 3 com espessura de camada uniforme sobre a camada metálica básica com um processo de precipitação metálica, por contato dos substratos semicondutores com um banho de precipitação de cobre, sendo que o banho de precipitação de cobre contém pelo menos uma fonte de íons de cobre, pelo menos um composto de aditivo, para controle das propriedades físico-mecânicas das camadas de cobre, bem como compostos de Fe(II) e/ou Fe(III) e sendo que entre os substratos semicondutores e os contra-eletrodos de dimensões estáveis, insolúveis no banho, e postos em contato com o mesmo, é aplicada uma tensão elétrica, de modo que entre os substratos semicondutores 1 e os contra-eletrodos corre uma corrente elétrica; c) estruturação da camada de cobre 3.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo por descumprimento

#8.11

Referente ao despacho 8.6 publicado na RPI 1925 de 27/11/2007.

13/12/2011

RPI 2136

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

Referente à 3ª, 4ª, 5ª, 6ª, 7ª e 8ª anuidades.

27/11/2007

RPI 1925

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

06/11/2001

RPI 1609

Monitoramento de patentes

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