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Dado oficial do INPI

SISTEMA E MÉTODO DE QA

Em AnálisePatente de InvençãoPCT · US2024012617

Dados do pedido

Patente de Invenção SISTEMA E MÉTODO DE QA — IPC A22C 17/00
Patente de Invenção SISTEMA E MÉTODO DE QA — IPC A22C 17/00. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.

Número

112025015173

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

23/01/2024

Publicação

28/04/2026

PCT

US2024012617

Andamento no INPI

Exame ainda não requerido
  1. Depósito23/01/24
  2. Publicação
  3. Exame
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

O exame técnico ainda não foi requerido. Sem esse requerimento até 23/01/2027, o pedido é arquivado em definitivo (art. 33 da LPI).

Prazo para requerer o exame:23/01/2027(faltam 152 dias)

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Última movimentação publicada pelo INPI: 28/04/2026. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

J. C. (pessoa física)

US

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Inventores

A. H. (pessoa física)

US

G. B. (pessoa física)

US

J. W. (pessoa física)

US

J. H. (pessoa física)

US

R. S. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Prioridades unionistas

US

63/481,113 · 23/01/2023

Resumo técnico

SISTEMA E MÉTODO DE QA. Um método implementado por computador para realizar uma análise de garantia de qualidade (QA) para uma amostra de QA pode incluir capturar dados de sensor de imagem de uma amostra de QA com uma montagem de sensor de imagem; gerar, com um dispositivo de computação, pelo menos um de um modelo 2D e um modelo 3D da amostra de QA usando os dados de sensor de imagem; e realizar, com um dispositivo de computação, uma análise de QA da amostra de QA pela comparação de pontos de dados do pelo menos um do modelo 2D e modelo 3D da amostra de QA e um modelo 2D e modelo 3D correspondentes de uma especificação de QA da amostra de QA.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

28/04/2026

RPI 2886

Alteração de dados cadastrais

#1.1

05/08/2025

RPI 2848

Monitoramento de patentes

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