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Dado oficial do INPI

SISTEMA DE TOMOGRAFIA POR COERÊNCIA ÓPTICA DE FONTE DE VARREDURA, SISTEMA DE PROCESSAMENTO DE MATERIAL, E, MÉTODO DE TOMOGRAFIA POR COERÊNCIA ÓPTICA DE FONTE DE VARREDURA

Em AnálisePatente de InvençãoPCT · US2024012552

Dados do pedido

Número

112025015172

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

23/01/2024

Publicação

28/04/2026

PCT

US2024012552

Depositantes e inventores

Depositantes

I. C. (pessoa física)

US

Inventores

E. H. (pessoa física)

US

I. S. (pessoa física)

US

J. K. (pessoa física)

US

P. W. (pessoa física)

US

T. F. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Prioridades unionistas

US

63/440,486 · 23/01/2023

Resumo técnico

SISTEMA DE TOMOGRAFIA POR COERÊNCIA ÓPTICA DE FONTE DE VARREDURA, SISTEMA DE PROCESSAMENTO DE MATERIAL, E, MÉTODO DE TOMOGRAFIA POR COERÊNCIA ÓPTICA DE FONTE DE VARREDURA. Um sistema de tomografia por coerência óptica de fonte de varredura (SS-OCT) para realizar imageamento de uma amostra tratada por um feixe de processamento de material que inclui um interferômetro usado em combinação com uma fonte de luz ajustável que gera um sinal óptico de imageamento que tem um número de onda k que é variável no tempo e uma taxa de varredura em uma faixa de 1 kHz a 20 MHz, de modo inclusivo, um detector óptico configurado para detectar um sinal óptico combinado a partir do interferômetro e gerar pelo menos um sinal de saída de interferômetro, e uma unidade de processamento configurada para detectar uma distorção no pelo menos um sinal de saída de interferômetro que é criado por uma diferença variável no tempo nos comprimentos de trajetória óptica do interferômetro e, em resposta, aplicar uma ou mais correções ao pelo menos um sinal de saída de interferômetro com o propósito de determinar pelo menos um recurso de uma região de processamento na amostra.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

28/04/2026

RPI 2886

Alteração de dados cadastrais

#1.1

05/08/2025

RPI 2848

Monitoramento de patentes

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