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Dado oficial do INPI

MÉTODO DE FABRICAÇÃO PARA UMA ESTRUTURA SEMICONDUTORA E ESTRUTURA SEMICONDUTORA

Em AnálisePatente de InvençãoPCT · CN2023070524

Dados do pedido

Patente de Invenção MÉTODO DE FABRICAÇÃO PARA UMA ESTRUTURA SEMICONDUTORA E ESTRUTURA SEMICONDUTORA — IPC H01L 23/528
Patente de Invenção MÉTODO DE FABRICAÇÃO PARA UMA ESTRUTURA SEMICONDUTORA E ESTRUTURA SEMICONDUTORA — IPC H01L 23/528. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.

Número

112024024279

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

04/01/2023

Publicação

07/10/2025

PCT

CN2023070524

Andamento no INPI

  1. Depósito04/01/23
  2. Publicação
  3. Exame
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Patente de Invenção (via PCT) depositado no INPI em 04/01/2023. Aguarda exame formal e publicação na RPI.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 07/10/2025. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

C. C. (pessoa física)

CN

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Inventores

D. X. (pessoa física)

CN

Y. J. (pessoa física)

CN

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

CN

202211412071.3 · 11/11/2022

Resumo técnico

MÉTODO DE FABRICAÇÃO PARA UMA ESTRUTURA SEMICONDUTORA E ESTRUTURA SEMICONDUTORA. Trata-se de um método de fabricação e uma estrutura de uma estrutura semicondutora. O método de fabricação para a estrutura semicondutora compreende: fornecer um substrato; formar sequencialmente uma primeira camada semicondutora e uma segunda camada semicondutora que são empilhadas sobre o substrato, sendo que o material da primeira camada semicondutora é diferente do da segunda camada semicondutora; gravar a segunda camada semicondutora para formar colunas ativas dispostas em uma matriz em uma primeira direção e uma segunda direção, sendo que cada coluna ativa compreende uma primeira região dopada, uma região de canal e uma segunda região dopada que estão dispostas sequencialmente em uma direção da primeira camada semicondutora em direção à segunda camada semicondutora; formar uma estrutura de linha de palavra, em que a estrutura de linha de palavra envolve a região de canal, que se estende na primeira direção e está espaçada da região de canal na segunda direção; formar uma estrutura de capacitor, sendo que a estrutura de capacitor está em contato e conectada à segunda região dopada e remover o substrato e a primeira camada semicondutora de modo a expor superfícies inferiores das colunas ativas; e formar uma estrutura de linha de bits, em que a estrutura de linha de bits está em contato e conectada à primeira região dopada. A confiabilidade da estrutura semicondutora pode ser melhorada.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

07/10/2025

RPI 2857

Exigências diversas

#1.5

Apresente novas folhas de Reivindicações com o termo ?Reivindicação" centralizado na parte superior da página, acima do início do texto da primeira página conforme Portaria/INPI/nº 14/2024, Art.18. A exigência deve ser respondida em até 60 (sessenta) dias de sua publicação e deve ser realizada por meio da petição GRU código de serviço 207.

15/07/2025

RPI 2845

Alteração de dados cadastrais

#1.1

08/07/2025

RPI 2844

Monitoramento de patentes

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