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Dado oficial do INPI

DISPOSITIVO DE MEDIÇÃO E DISPOSITIVO DE SELEÇÃO

Em AnálisePatente de InvençãoPCT · JP2023009530

Dados do pedido

Patente de Invenção DISPOSITIVO DE MEDIÇÃO E DISPOSITIVO DE SELEÇÃO — IPC B07C 5/342
Patente de Invenção DISPOSITIVO DE MEDIÇÃO E DISPOSITIVO DE SELEÇÃO — IPC B07C 5/342. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.

Número

112024018791

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

13/03/2023

Publicação

17/12/2024

PCT

JP2023009530

Andamento no INPI

  1. Depósito13/03/23
  2. Publicação
  3. Exame
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Patente de Invenção (via PCT) depositado no INPI em 13/03/2023. Aguarda exame formal e publicação na RPI.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 17/12/2024. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

S. C. (pessoa física)

JP

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Inventores

H. T. (pessoa física)

JP

S. F. (pessoa física)

JP

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

JP

2022-041545 · 16/03/2022

Resumo técnico

DISPOSITIVO DE MEDIÇÃO E DISPOSITIVO DE SELEÇÃO. A presente invenção refere-se a um aparelho de medição que serve para medir uma condição de um objeto e compreende: uma unidade de transporte que transporta o objeto; uma fonte de irradiação de ondas eletromagnéticas, um sensor que é configurado de modo a detectar pelo menos uma dentre as ondas eletromagnéticas refletidas que são refletidas pelo objeto e as ondas eletromagnéticas transmitidas que são transmitidas pelo objeto; uma unidade de identificação que é configurada de modo a identificar uma condição do objeto com base em um sinal obtido pelo sensor, e uma unidade de controle de irradiação que é configurada de modo a controlar a irradiação de ondas eletromagnéticas da fonte de irradiação de ondas eletromagnéticas. A fonte de irradiação de ondas eletromagnéticas inclui uma primeira fonte de irradiação e uma segunda fonte de irradiação que diferem com relação a pelo menos uma dentre as faixas de comprimento de onda das ondas eletromagnéticas irradiadas pela mesma e o local de posicionamento da mesma. A unidade de controle de irradiação controla a fonte de irradiação de ondas eletromagnéticas de tal modo que primeiros períodos de irradiação, que são períodos nos quais a primeira fonte de irradiação irradia ondas eletromagnéticas, e segundos períodos de irradiação, que são períodos nos quais a segunda fonte de irradiação irradia ondas eletromagnéticas, ocorram de maneira alternada sem sobreposição.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

17/12/2024

RPI 2815

Alteração de dados cadastrais

#1.1

24/09/2024

RPI 2803

Monitoramento de patentes

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