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Dado oficial do INPI

MÉTODO E SISTEMA DE CALIBRAÇÃO

Em AnálisePatente de InvençãoPCT · EP2022078431

Dados do pedido

Patente de Invenção MÉTODO E SISTEMA DE CALIBRAÇÃO de RSP SYSTEMS A/S — IPC A61B 5/00
Patente de Invenção MÉTODO E SISTEMA DE CALIBRAÇÃO de RSP SYSTEMS A/S — IPC A61B 5/00. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.

Número

112024010195

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

12/10/2022

Publicação

28/01/2025

PCT

EP2022078431

Andamento no INPI

  1. Depósito12/10/22
  2. Publicação
  3. Exame
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Patente de Invenção (via PCT) depositado no INPI em 12/10/2022. Aguarda exame formal e publicação na RPI.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 28/01/2025. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

RSP SYSTEMS A/S

DK

Inventores

A. P. (pessoa física)

DK

A. W. (pessoa física)

DK

S. L. (pessoa física)

DK

Dados técnicos

Prioridades unionistas

GB

2116869.5 · 23/11/2021

Resumo técnico

MÉTODO E SISTEMA DE CALIBRAÇÃO. A invenção provê um sistema e método de calibração de um modelo usado em um dispositivo para medição in vivo não invasiva de uma concentração de analito usando espectroscopia Raman, o dispositivo compreendendo: uma fonte óptica para prover um sinal óptico e um detector óptico para receber uma saída óptica espalhada de Raman, o método compreendendo: em resposta à fonte de laser sendo direcionada para a pele de um usuário, coletar radiação espalhada de Raman da pele do usuário e com base nisso, calibrar o modelo com base em dados de referência e nos espectros Raman recebidos durante um período prolongado de dias, tal como 10 dias ou mais.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

28/01/2025

RPI 2821

Alteração de dados cadastrais

#1.1

04/06/2024

RPI 2787

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