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Dado oficial do INPI

SISTEMAS E PROCESSOS PARA A MARCAÇÃO PERSISTENTE DE PLACAS FLEXÍVEIS COM MICROESTRUTURAS E PLACAS ISOLADAS MARCADAS COM A MESMA

ArquivadaPatente de InvençãoPCT · EP2022080376

Dados do pedido

Patente de Invenção SISTEMAS E PROCESSOS PARA A MARCAÇÃO PERSISTENTE DE PLACAS FLEXÍVEIS COM MICROESTRUTURAS E PLACAS ISOLADAS MARCADAS COM A MESMA de ESKO-GRAPHICS IMAGING GMBH — IPC G03F 9/00
Patente de Invenção SISTEMAS E PROCESSOS PARA A MARCAÇÃO PERSISTENTE DE PLACAS FLEXÍVEIS COM MICROESTRUTURAS E PLACAS ISOLADAS MARCADAS COM A MESMA de ESKO-GRAPHICS IMAGING GMBH — IPC G03F 9/00. Figura publicada pelo INPI na Revista da Propriedade Industrial.

Número

112024008446

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

31/10/2022

Publicação

13/08/2024

PCT

EP2022080376

Andamento no INPI

  1. Depósito31/10/22
  2. Publicação13/08/24
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 31/10/2022, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 03/02/2026. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

ESKO-GRAPHICS IMAGING GMBH

DE

Inventores

C. G. (pessoa física)

DE

J. W. (pessoa física)

DE

P. T. (pessoa física)

DE

W. S. (pessoa física)

DE

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

EP

22172781.1 · 11/05/2022

US

63/274,202 · 01/11/2021

Resumo técnico

SISTEMAS E PROCESSOS PARA A MARCAÇÃO PERSISTENTE DE PLACAS FLEXÍVEIS COM MICROESTRUTURAS E PLACAS ISOLADAS MARCADAS COM A MESMA. A presente invenção refere-se a indícios não impressos em uma placa formada parcial ou totalmente de microestruturas formadas por meio da exposição através de aberturas em uma camada de mascaramento de estruturas elevadas ou rebaixadas que representam um ou mais sinais alfanuméricos, códigos digitais, ou marcas de alinhamento. Uma marca de micro alinhamento isolada pode ser usada em conjunto com um anel de LEDs para mostrar o alinhamento por um padrão de iluminação característico até um grau elevado de exatidão. Os indícios não impressos podem ser derivados das imagens de uma pluralidade de supercélulas definidas por uma pluralidade de pixels expostos e pixels não expostos dispostos dentro de cada limite de supercélula. Cada supercélula pode ter um primeiro número de aglomerados de pixels expostos, em que cada aglomerado tem um segundo número de pixels expostos, aglomerados adjacentes espaçados uns dos outros por um terceiro número de pixels não expostos, e um enchimento entre o limite da supercélula e um aglomerado de pixels exposto mais próximo que define um quarto número de pixels não expostos.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI

#11.1.1

03/02/2026

RPI 2874

Arquivamento - Art. 33 da LPI

#11.1

18/11/2025

RPI 2863

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

13/08/2024

RPI 2797

Alteração de dados cadastrais

#1.1

07/05/2024

RPI 2783

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