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Dado oficial do INPI

DISPOSITIVO DE CONTROLE DE LUZ DE CRISTAL LÍQUIDO

Em ExigênciaPatente de InvençãoPCT · JP2022010103

Dados do pedido

Número

112023019009

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

08/03/2022

Publicação

28/11/2023

PCT

JP2022010103

Andamento no INPI

Exigência a cumprir
  1. Depósito08/03/22
  2. Publicação28/11/23
  3. Exame
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

O INPI fez uma exigência técnica neste pedido. Se não for cumprida no prazo, o pedido é arquivado (art. 36 da LPI).

Prazo para cumprir a exigência:07/09/2026(faltam 13 dias)

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Última movimentação publicada pelo INPI: 09/06/2026. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

JAPAN DISPLAY INC

JP

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Inventores

K. I. (pessoa física)

JP

T. K. (pessoa física)

JP

T. K. (pessoa física)

JP

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

JP

2021-050757 · 24/03/2021

Resumo técnico

DISPOSITIVO DE CONTROLE DE LUZ DE CRISTAL LÍQUIDO.Este dispositivo de controle de luz de cristal líquido inclui uma primeira célula de cristal líquido, uma segunda célula de cristal líquido sobreposta à primeira célula de cristal líquido, uma terceira célula de cristal líquido sobreposta à segunda célula de cristal líquido e uma quarta célula de cristal líquido sobreposta à terceira célula de cristal líquido. Cada uma dentre a primeira célula de cristal líquido, a segunda célula de cristal líquido, a terceira célula de cristal líquido e a quarta célula de cristal líquido inclui um primeiro substrato incluindo uma primeira película de alinhamento, um segundo substrato incluindo um eletrodo que inclui um padrão em forma de faixa e uma segunda película de alinhamento, além de uma camada de cristal líquido entre o primeiro substrato e o segundo substrato. A direção de alinhamento da primeira película de alinhamento e a direção de alinhamento da segunda película de alinhamento se cruzam. O eletrodo incluindo o padrão em forma de faixa está disposto em uma direção na qual a direção longitudinal do padrão em forma de faixa intercepta a direção de alinhamento da segunda película de alinhamento, gerando um campo elétrico transversal na mesma direção que a direção de alinhamento da segunda película de alinhamento.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

09/06/2026

RPI 2892

Parecer de pré-exame

#6.23

21/10/2025

RPI 2859

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

28/11/2023

RPI 2760

Alteração de dados cadastrais

#1.1

03/10/2023

RPI 2752

Monitoramento de patentes

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