Concessão da patente
#16.1
Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 08/01/2021, observadas as condições legais
27/05/2025
RPI 2838
Dados do pedido
Número
112022012786Tipo
Depósito
Publicação
PCT
EP2021050292 Patente concedida em 27/05/2025 e em vigor até 08/01/2041. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.
Proteção válida até:08/01/2041
Última movimentação publicada pelo INPI: 27/05/2025. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes
OMICRON ELECTRONICS GMBH
AT
Inventores
H. S. (pessoa física)
AT
L. B. (pessoa física)
AT
Classificação IPC
Prioridades unionistas
AT
A50012/2020 · 10/01/2020
Resumo técnico
FONTE DE ALTA CORRENTE PARA SISTEMA DE TESTAGEM PARA TESTE DE UM DISPOSITIVO DE ENERGIA ELÉTRICA, E SISTEMA DE TESTAGEM. A presente invenção refere-se a uma fonte de alta corrente (200) para um sistema de testagem para teste de um dispositivo de energia elétrica (30), que apresenta uma primeira pluralidade de primeiras meias-pontes conectáveis (212) e uma segunda pluralidade de segundas meias-pontes conectáveis (222), as quais estão conectadas em paralelo e através das quais uma corrente de teste é dividida de modo redundante. Um dispositivo de controle (280) está desenhado para, com base em um sinal de entrada, controlar as primeiras e segundas meias-pontes (212, 222) de tal modo, que em um ramo de ponte (230) entre as primeiras meias-pontes conectáveis (212) e as segundas meias-pontes conectáveis (222), existe um sinal de saída para a corrente de teste, o qual corresponde ao sinal de entrada.
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
#16.1
Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 08/01/2021, observadas as condições legais
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