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Dado oficial do INPI

COMPOSTO DE FENILMETILPIRAZOLONA TENDO UMA NOVA FORMA CRISTALINA

ArquivadaPatente de InvençãoPCT · IB2019061397

Dados do pedido

Número

112021017855

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

27/12/2019

Publicação

30/11/2021

PCT

IB2019061397

Andamento no INPI

  1. Depósito27/12/19
  2. Publicação30/11/21
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado: a exigência técnica do INPI não foi cumprida no prazo (art. 36 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 15/08/2023. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

SIA EMTEKO HOLDING

LV

Inventores

M. G. (pessoa física)

UA

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

UA

a201904026 · 17/04/2019

Resumo técnico

COMPOSTO DE FENILMETILPIRAZOLONA TENDO UMA NOVA FORMA CRISTALINA.Esta invenção diz respeito ao composto de fenilmetilpirazolona tendo uma forma cristalina, que corresponde aos parâmetros determinados pelo método de Debye-Scherer de análise de difração de raio-X no pó, em que os parâmetros das células cristalinas correspondem a: a (Å) - 10,244 (6) Å, b (Å) - 11,198 (5) Å, c (Å) - 15,911 (9) Å, ߺ - 94,95 (3) º, VÅ3 - 1821 (3) Å3. Os ângulos 2T para os padrões de difração cristalina correspondem a: 4,73º; 5,98º; 9,11º; 9,94º; 11,45º; 14,74º; 15,85º; 17,09º; 21,60º. As distâncias interplanares dos cristais correspondem a: 8,09 Å; 6,42 Å; 4,58 Å; 3,97 Å; 3,12 Å; 2,79 Å; 2,58 Å; 2,37; 1,99 Å. Um processo de obter o dito composto tendo uma forma cristalina envolve a recristalização da substância obtida e contém as seguintes etapas: i) dissolver os cristais obtidos no processo de síntese em etanol aquecendo-se a 45ºC sob refluxo; ii) filtrar a solução resultante sem resfriamento através de um filtro de material inerte; iii) resfriar a solução a 5ºC para formar um precipitado (cristais); iv) lavar os cristais obtidos com acetato de etila para remover as impurezas.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento - Art. 36 §1° da LPI

#11.2

15/08/2023

RPI 2745

Parecer de pré-exame

#6.23

09/05/2023

RPI 2731

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

30/11/2021

RPI 2656

Alteração de dados cadastrais

#1.1

21/09/2021

RPI 2646

Monitoramento de patentes

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