Publicação anulada - titular
#25.12
Anulada a publicação código 25.11 na RPI nº 2859 de 21/10/2025 por ter sido indevida.
25/11/2025
RPI 2864
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Dado oficial do INPI
ANALISADOR DE FLUORESCÊNCIA DE RAIOS X
Em AnálisePatente de InvençãoPCT · FI2018050282 Documento oficial disponível
Dados do pedido
Número
112020021448Tipo
Patente de Invenção
Depósito
20/04/2018
Publicação
19/01/2021
PCT
FI2018050282 Carta-patente disponível
Temos o documento oficial completo deste processo, publicado pelo INPI.
Acessar documentoAndamento no INPI
- Depósito20/04/18
- Publicação19/01/21
- Exame
- Deferimento10/10/23
- Concessão26/12/23
- Em vigor20/04/38
Patente concedida em 26/12/2023 e em vigor até 20/04/2038. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.
Proteção válida até:20/04/2038
Última movimentação publicada pelo INPI: 25/11/2025. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes e inventores
Depositantes
METSO FINLAND OY
FI
METSO MINERALS OY
FI
METSO OUTOTEC FINLAND OY
FI
OUTOTEC (FINLAND) OY
FI
Inventores
A. P. (pessoa física)
FI
H. S. (pessoa física)
FI
T. K. (pessoa física)
FI
Dados técnicos
Classificação IPC
Resumo técnico
Um analisador de fluorescência de raios X compreende um tubo de raios X (402) para emitir raios X incidentes (206) na direção de um primeiro eixo óptico (204). Uma unidade de manipulação de pasta (201) é configurada para manter uma distância constante entre uma amostra (202) de pasta e o referido tubo de raios X. Um primeiro difrator de cristal (601) está localizado em uma primeira direção da referida unidade de manipulação de pasta (201), e configurado para separar uma primeira faixa de comprimento de onda predefinida dos raios X fluorescentes (207) que se propagam para a referida primeira direção. O primeiro difrator de cristal é configurado para direcionar os raios X fluorescentes na primeira faixa de comprimento de onda predefinida separada para um primeiro detector de radiação (602, 1505). O primeiro difrator de cristal (601) compreende um cristal de grafite pirolítico (603, 802, 804) que tem uma superfície difrativa (801, 803, 805), que é uma superfície simplesmente conectada. O referido primeiro detector de radiação (602) é um detector de semicondutor de estado sólido.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Alteração de sede deferida
#25.7
18/11/2025
RPI 2863
Republicação - titular
#25.11
Referente ao despacho publicado na RPI 2851, de 26/08/2025, item 25.4, por não tersido disponibilizado o parecer para consulta do titular.
04/11/2025
RPI 2861
Republicação - titular
#25.11
Referente ao despacho publicado na RPI 2851, de 26/08/2025, item 25.4, por não tersido disponibilizado o parecer para consulta do titular.
21/10/2025
RPI 2859
Alteração de nome deferida
#25.4
26/08/2025
RPI 2851
Concessão da patente
#16.1
Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 20/04/2018, observadas as condições legais
26/12/2023
RPI 2764
Deferimento
#9.1
10/10/2023
RPI 2753
Alteração de nome deferida
#25.4
11/07/2023
RPI 2740
Transferência deferida
#25.1
27/06/2023
RPI 2738
Parecer de pré-exame
#6.23
23/05/2023
RPI 2733
Adição na publicação
#15.35
14/12/2021
RPI 2658
Notificação de entrada na fase nacional - PCT
#1.3
19/01/2021
RPI 2611
Alteração de dados cadastrais
#1.1
27/10/2020
RPI 2599
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